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分段式T型扫描测厚仪
摘要文本
本发明涉及检测仪器技术领域，且公开了分段式T型扫描测厚仪，所述位移驱动机构包括设置在机架顶部的固定底座，所述固定底座的顶部安装有大滑台，所述大滑台的顶部安装有固定连接座，所述固定连接座的两侧壁上分别安装有驱动滑台和从动滑台，所述驱动滑台的外侧壁上安装有探头固定座一，所述从动滑台的外侧壁上安装有探头固定座二，所述下探头射线发射极安装在探头固定座一的一端端面位置处，所述上探头射线接收极安装在探头固定座二的一端端面位置处。该分段式T型扫描测厚仪，通过两次分段式行进的方案，能够有效缩短扫描幅宽，降低占地范围，提高扫描的灵活性。 搜索马 克 数 据 网
申请人信息
- 申请人:嘉兴市和意自动化控制有限公司
- 申请人地址:314001 浙江省嘉兴市经济技术开发区金穗路79号2号楼1楼、2楼西
- 发明人: 嘉兴市和意自动化控制有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 分段式T型扫描测厚仪 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311489356.1 |
| 申请日 | 2023/11/10 |
| 公告号 | CN117470147A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G01B15/02 |
| 权利人 | 嘉兴市和意自动化控制有限公司 |
| 发明人 | 朱建伟; 韩慧晨; 黄春宇 |
| 地址 | 浙江省嘉兴市经济技术开发区金穗路79号2号楼1楼、2楼西 |
专利主权项内容
1.分段式T型扫描测厚仪，包括机架(1)和安装在机架(1)一侧的检测架(2)，所述检测架(2)的上方设置有检测腔室(3)，所述检测腔室(3)内设置有用于检测扫描的检测探头，其特征在于：所述检测探头主要包括下探头射线发射极(4)和上探头射线接收极(5)；所述下探头射线发射极(4)和上探头射线接收极(5)的一侧设置有位移驱动机构；所述位移驱动机构包括设置在机架(1)顶部的固定底座(6)，所述固定底座(6)的顶部安装有大滑台(7)，所述大滑台(7)的顶部安装有固定连接座(8)，所述固定连接座(8)的两侧壁上分别安装有驱动滑台(9)和从动滑台(10)，所述驱动滑台(9)的外侧壁上安装有探头固定座一(11)，所述从动滑台(10)的外侧壁上安装有探头固定座二(12)，所述下探头射线发射极(4)安装在探头固定座一(11)的一端端面位置处，所述上探头射线接收极(5)安装在探头固定座二(12)的一端端面位置处。