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一种光学材料激光损伤阈值准确测试方法
摘要文本
本发明公开了一种光学材料激光损伤阈值准确测试方法，通过使待测光学材料表面产生宽度均匀的“L”形损伤轨迹，直接测量“L”形损伤轨迹的横轴和纵轴的宽度，并结合数据拟合法进行激光损伤阈值测试，可减少测量损伤坑尺寸的人为性因素及因损伤坑形状的不规则性等不确定性因素造成的激光损伤阈值计算误差，有效保证激光损伤阈值测试的准确性。本发明方法对待测光学材料的辐照次数可调、可控，在待测光学材料表面产生的“L”形损伤轨迹的横轴和纵轴的宽度均匀，且通过比较横轴和纵轴的宽度，可快速简单直观地评判激光光束质量。本发明方法的过程控制操作简单，重复性高，测试结果的稳定性好，可适用于S‑on‑1激光损伤测试。
申请人信息
- 申请人:宁波大学; 浙江台州天擎光电科技有限公司
- 申请人地址:315211 浙江省宁波市江北区风华路818号
- 发明人: 宁波大学; 浙江台州天擎光电科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种光学材料激光损伤阈值准确测试方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311450934.0 |
| 申请日 | 2023/11/3 |
| 公告号 | CN117607068A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G01N21/27 |
| 权利人 | 宁波大学; 浙江台州天擎光电科技有限公司 |
| 发明人 | 戴世勋; 谢佩佩; 崔奥; 张培晴; 王莹莹; 林常规 |
| 地址 | 浙江省宁波市江北区风华路818号; |
专利主权项内容
1.一种光学材料激光损伤阈值准确测试方法，其特征在于，包括以下步骤S1、将待测光学材料进行抛光处理；S2、采用激光直写的方式，对待测光学材料辐照至少三次，每次辐照的入射激光功率不同，每次辐照后，在待测光学材料的表面产生一道由多个圆形损伤坑依次交叠构成的“L”形损伤轨迹；S3、基于产生的至少三道“L”形损伤轨迹的横轴和纵轴的宽度，计算每道“L”形损伤轨迹的横轴和纵轴的宽度的平均值，作为每次辐照的圆形损伤坑的直径D；S4、通过公式(1)建立圆形损伤坑的直径D的平方D与入射激光能量E的对数lnE之间的数据拟合直线：2inin根据建立的数据拟合直线，确定数据拟合直线的斜率，该斜率即为激光的光斑半径ω；当D＝0时，表明此时恰好无损伤发生，对应的入射激光能量E即为激光损伤能量阈值E；02inth在确定激光损伤能量阈值E和激光的光斑半径ω后，使用公式(2)计算相应的激光损伤阈值F：th0th