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基于热惯性修正的瞬态液晶测试对流换热系数的方法
摘要文本
本发明公开了基于热惯性修正的瞬态液晶测试对流换热系数的方法，包括：采集热电偶原始温度数据和液晶显色视频信息；对所述热电偶原始温度数据进行热惯性修正处理，获得来流温度数据；根据所述液晶显色视频信息和来流温度数据，获得每个像素点的对流换热系数。本发明利用集中参数法的原理，将热电偶测得的来流温度进行热惯性修正，将修正后的数据用于瞬态液晶测量对流换热系数的方法中，解决了对流换热系数测试不准的难题。
申请人信息
- 申请人:天目山实验室
- 申请人地址:311100 浙江省杭州市余杭区五常街道西溪八方城11幢3-14层
- 发明人: 天目山实验室
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于热惯性修正的瞬态液晶测试对流换热系数的方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311757972.0 |
| 申请日 | 2023/12/20 |
| 公告号 | CN117705871A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G01N25/20 |
| 权利人 | 天目山实验室 |
| 发明人 | 由儒全; 李海旺; 刘润洲; 陶智 |
| 地址 | 浙江省杭州市余杭区五常街道西溪八方城11幢3-14层 |
专利主权项内容
1.基于热惯性修正的瞬态液晶测试对流换热系数的方法，其特征在于，包括：采集热电偶原始温度数据和液晶显色视频信息；对所述热电偶原始温度数据进行热惯性修正处理，获得来流温度数据；根据所述液晶显色视频信息和来流温度数据，获得每个像素点的对流换热系数。