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半导体动态测试设备
摘要文本
本申请涉及一种半导体动态测试设备，涉及测试设备技术领域，半导体动态测试设备包括安装座，安装座内设有相对设置的上吸台和下吸台，上吸台和下吸台之间设有测试架，测试架上设有测试触头，测试架上设置有用于控制测试触头翻转的第一驱动件，安装座上设置有第二驱动件，第二驱动件用于驱动上吸台和下吸台在水平方向上沿远离或靠近测试架的方向进行移动；下吸台上开设有下吸孔，下吸台上设有用以对下吸孔抽气的第一控制件，上吸台上开设有与下吸台相对的上吸孔，上吸台上设有用以对上吸孔抽气的第二控制件，安装座上设有第三驱动件，第三驱动件用以驱动上吸台沿远离或靠近下吸台的方向进行移动。本申请可提高半导体动态测试作业的效率和便利性。
申请人信息
- 申请人:杭州高坤电子科技有限公司
- 申请人地址:311122 浙江省杭州市余杭区闲林街道裕丰路7号5号楼4层
- 发明人: 杭州高坤电子科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 半导体动态测试设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311511628.3 |
| 申请日 | 2023/11/14 |
| 公告号 | CN117471131A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G01R1/04 |
| 权利人 | 杭州高坤电子科技有限公司 |
| 发明人 | 胡久恒; 黄昭 |
| 地址 | 浙江省杭州市余杭区闲林街道裕丰路7号5号楼4层 |
专利主权项内容
来自马-克-数-据 1.一种半导体动态测试设备，其特征在于：包括安装座(1)，所述安装座(1)内设置有相对设置的上吸台(2)和下吸台(3)，所述上吸台(2)和所述下吸台(3)之间设置有测试架(4)，所述测试架(4)上设置有测试触头(5)，所述测试架(4)上设置有用于控制所述测试触头(5)翻转的第一驱动件(6)，所述安装座(1)上设置有第二驱动件(7)，所述第二驱动件(7)用于驱动所述上吸台(2)和所述下吸台(3)在水平方向上沿远离或靠近所述测试架(4)的方向进行移动；所述下吸台(3)上开设有下吸孔(8)，所述下吸台(3)上设置有用以对所述下吸孔(8)抽气的第一控制件(9)，所述上吸台(2)上开设有与所述下吸台(3)相对的上吸孔(10)，所述上吸台(2)上设置有用以对所述上吸孔(10)抽气的第二控制件(11)，所述安装座(1)上设置有第三驱动件(12)，所述第三驱动件(12)用以驱动所述上吸台(2)沿远离或靠近所述下吸台(3)的方向进行移动。