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一种用于半导体测试的实时监控方法及装置

申请号: CN202311826343.9
申请人: 杭州芯云半导体技术有限公司
申请日期: 2023/12/28

摘要文本

本发明公开了一种用于半导体测试的实时监控方法及装置,实时监控方法包括以下步骤:获取数据存储文件,数据存储文件用于实时接收用于半导体测试的监测数据;基于监测数据的格式,对数据存储文件进行解析,形成数据解析报表;基于数据存储文件和数据解析报表,确定数据解析报表中的增量数据;结合预警规则,分析数据解析报表中的增量数据,对半导体测试过程进行异常报警。本发明可以准确获取测试过程中不同环节的测试数据,并且数据解析及传输实时性高,便于在测试过程中发现问题并进行异常预警。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种用于半导体测试的实时监控方法及装置
专利类型 发明授权
申请号 CN202311826343.9
申请日 2023/12/28
公告号 CN117472699B
公开日 2024/3/22
IPC主分类号 G06F11/30
权利人 杭州芯云半导体技术有限公司
发明人 徐振; 李志凯; 丁盛峰
地址 浙江省杭州市滨江区浦沿街道六和路368号一幢(南)一楼F1066室

专利主权项内容

1.一种用于半导体测试的实时监控方法,其特征在于,具体包括如下步骤:获取数据存储文件,数据存储文件用于实时接收用于半导体测试的监测数据;基于监测数据的格式,对数据存储文件进行解析,形成数据解析报表;基于数据存储文件和数据解析报表,确定数据解析报表中的增量数据;结合预警规则,分析数据解析报表中的增量数据,对半导体测试过程进行异常报警;其中,基于监测数据的格式,对数据存储文件进行解析,形成数据解析报表,具体包括如下步骤:对获取的数据存储文件进行类型分析,确定数据存储文件的创建状态;基于数据存储文件的创建状态,在指定文件路径生成与数据存储文件存在映射关系的临时文件;将数据存储文件中的监测数据同步更新复制至临时文件;基于监测数据的格式,对临时文件进行解析,生成数据解析报表;数据存储文件的监测数据包括若干段含多字节的数据片段,数据片段包括沿读写顺序依次排列的消息长度、消息类型及消息体,消息体包括测试数据、测试对象数据和参数信息;将数据存储文件中的监测数据同步更新复制至临时文件,具体包括如下步骤:通过数据存储文件的写入位置,在预设时间间隔内实时监测数据存储文件的属性参数变化;基于属性参数变化情况,比较数据存储文件中消息长度及消息类型的变化,并区划数据存储文件内的增量字节,将增量字节同时同步更新复制至临时文件;基于监测数据的格式,对临时文件进行解析,生成数据解析报表,包括:对消息长度进行识别得到消息体的字节长度;对消息类型进行识别给出消息体的数据类型,以及按读写顺序排列的测试环节;其中,消息类型包括数字类型和文本类型;根据读写顺序对消息体进行识别,给出数字类型的起始字节和数字类型中测试环节的字节长度;基于按读写顺序排列的测试环节、数字类型的起始字节和数字类型中测试环节的字节长度,给出数字类型中所有测试环节对应的字节长度片段;基于读写顺序对文本类型进行识别,确定文本类型中所有首字节和与首字节对应的尾字节;基于按读写顺序排列的测试环节,数字类型中所有测试环节对应的字节长度片段,以及文本类型中所有首字节和与首字节对应的尾字节,给出文本类型中所有测试环节对应的字节长度片段;解析消息体中所有测试环节对应的字节长度片段,并结合消息长度、消息类型和消息体的识别结果,给出数据解析报表;基于数据存储文件和数据解析报表,确定数据解析报表中的增量数据,包括:根据增量字节的更新复制状态,确定增量字节更新复制的起始节点和终止节点;基于增量字节更新复制的起始节点和终止节点,确定数据解析报表的更新区间;根据数据解析报表的更新区间,确定更新区间中测试环节对应的测试数据内容;其中,确定更新区间中测试环节对应的测试数据内容,满足以下关系包括:
<式中,x为某个测试环节,y为数据解析报表的更新区间中搜索后给出的规则行,z为对应更新区间中测试环节对应的测试数据内容,f()为规则行y与测试环节x之间的函数,F为搜索函数,g()为测试数据内容与测试环节之间的函数,M为匹配函数,S为规则行总数,rownum为所有测试环节对应的规则行区间,T为第i规则行的数据类型,T为第y规则行的数据类型,columnnum为所有测试环节对应的规则列区间,TL为第i规则行对应增量字节中的字节长度,TL为第y规则行对应增量字节中的字节长度。ˍiyˍiy