生成符合NAND数据特征带软判决信息的数据的方法
摘要文本
本发明公开了一种生成符合NAND数据特征带软判决信息的数据的方法,包括:对NAND闪存颗粒擦写磨损;获取调档读数据;计算NAND闪存颗粒的最优电压阈值及最优读取数据;计算档位偏移读数据;计算最优读取数据中的比特翻转数量;按照数据样本的比特翻转数量的不同,将原始数据进行分类;统计软判决信息对最优读取数据的标记,将数据量颗粒度内的数据分为若干类;对若干类数据再进行分类以得到各类型数据内部的子类数据的比例;利用得到的各类型数据内部的子类数据的比例,并通过随机数发生器,生成带有比特翻转和软判决信息的数据。本发明解决了传统方法在NAND闪存颗粒上获取大量带软判决信息读数据困难的问题。
申请人信息
- 申请人:杭州阿姆科技有限公司
- 申请人地址:310052 浙江省杭州市滨江区六和路368号一幢(北)二楼B2200室
- 发明人: 杭州阿姆科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 生成符合NAND数据特征带软判决信息的数据的方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202311677375.7 |
| 申请日 | 2023/12/8 |
| 公告号 | CN117393025B |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G11C16/34 |
| 权利人 | 杭州阿姆科技有限公司 |
| 发明人 | 冯立晖; 廖莎; 雷莉; 王荣生 |
| 地址 | 浙江省杭州市滨江区六和路368号一幢(北)二楼B2200室 |
专利主权项内容
1.一种生成符合NAND数据特征带软判决信息的数据的方法,其特征在于,包括步骤:S1、对预设的NAND闪存颗粒进行擦写磨损,使得部分数据页的比特翻转在预设的阈值范围内;S2、收集NAND闪存颗粒上的读写数据:先写入数据,并保存写入的数据;选取电压阈值的偏移范围和档位,依次按照所选档位读取并保存所得数据,即调档读数据;S3、计算NAND闪存颗粒的最优电压阈值及最优电压阈值下的最优读取数据;S4、选取相对于最优电压阈值的读偏移档位,计算档位偏移读数据;S5、计算最优读取数据中的比特翻转数量:通过比对最优读取数据与写数据,并通过预设的数据量颗粒度获取每个数据比特翻转数量;S6、按照步骤S5所述的数据量颗粒度,对数据样本的比特翻转进行统计,按照比特翻转数量的不同,将步骤S1中的原始数据进行分类,记为第一次分类;S7、统计软判决信息对最优读取数据的标记,将数据量颗粒度内的数据分为若干类,记为第二次分类;S8、将步骤S7得到的若干类数据再进行分类,以得到各类型数据内部的子类数据的比例,记为第三次分类;S9、利用第三次分类得到的各类型数据内部的子类数据的比例,并通过随机数发生器,生成带有比特翻转和软判决信息的数据;步骤S9具体包括步骤:S9.1、确定要注入的比特翻转数量;S9.2、通过随机数发生器生成整个数据帧的数据;S9.3、利用随机数发生器生成比特翻转的位置,比特翻转的位置的数量与步骤S9.1确定的比特翻转数量相同;S9.4、按照步骤S9.3中生成的比特翻转的位置,对步骤S9.2生成的数据帧中对应的比特进行翻转,得到带有比特翻转的硬判决数据帧;S9.5、通过步骤S8获得的各类型数据内部的子类数据的比例将每个大类作为一个完整的正态分布,通过查表计算获得每个子类数据的概率密度阈值,为每个大类数据计算对应的累积分布阈值;S9.6、逐比特按照步骤S7所得分类和步骤S8得到的各类型数据内部的子类数据的比例分析当前比特所在类型及所在数据比例区间,利用随机数发生器生成呈正太分布的随机数,并比对当前比特所对应的阈值表,确定该比特软判决信息标记状态,然后依次逐比特分析数据帧中的数据,并标记每个比特的软判决信息状态,即可完成对整个数据帧的软判决信息注入。 搜索马 克 数 据 网