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电路路径的检测方法、电子设备及可读存储介质
摘要文本
本申请属于电路技术领域，涉及电路路径的检测方法、电子设备及可读存储介质，电路路径的检测方法，包括：对芯片全局的所有时序路径进行静态时序分析，确定所有时序路径的静态分析结果。基于静态分析结果中的第一时序裕量，在所有时序路径中确定对象路径，对象路径的第一时序裕量小于第一预设阈值。对所有对象路径进行动态仿真分析，确定所有对象路径的中的违例路径。如此，本申请提供了一种时序分析方式，以高效、精确地完成芯片全局的时序分析得到时序分析结果，既能保持静态时序分析确定违例路径的高效性，又能够对这些违例路径进行了准确的动态仿真，以准确地识别真正的违例路经，本申请提供的时序分析方式具有高效、准确、通用性强的特点。 来自马-克-数-据
申请人信息
- 申请人:杭州行芯科技有限公司
- 申请人地址:310051 浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号3号楼11层
- 发明人: 杭州行芯科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 电路路径的检测方法、电子设备及可读存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311828339.6 |
| 申请日 | 2023/12/27 |
| 公告号 | CN117764008A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G06F30/3312 |
| 权利人 | 杭州行芯科技有限公司 |
| 发明人 | 请求不公布姓名; 请求不公布姓名 |
| 地址 | 浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号3号楼11层 |
专利主权项内容
1.一种电路路径的检测方法，其特征在于，包括：对芯片全局的所有时序路径进行静态时序分析，确定所有时序路径的静态分析结果；基于所述静态分析结果中的第一时序裕量，在所述所有时序路径中确定对象路径，所述对象路径的第一时序裕量小于第一预设阈值；对所有对象路径进行动态仿真分析，确定所述所有对象路径的中的违例路径。