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一种寄生电容信息的获取方法、装置及电子设备

申请号: CN202311793623.4
申请人: 杭州行芯科技有限公司
申请日期: 2023/12/25

摘要文本

本申请涉及一种寄生电容信息的获取方法、装置及电子设备,方法包括:确定电路中的目标区域;确定目标区域中待求解寄生电容的目标网络;基于与目标网络构成电容的至少一关联网络,求解与目标网络对应的寄生电容,其中,关联网络位于根据目标区域的边界数据或目标网络的边界数据确定的外扩区域;根据目标区域中各目标网络的寄生电容的求解结果,获取与目标区域对应的寄生电容信息。本申请在提取目标区域内的寄生电容信息时,在目标区域的基础上设置了外扩区域用于选取关联网络,提供了可靠的提取环境,使得寄生电容的提取过程适用于任意选取区域,且保证了提取寄生电容的精确性。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种寄生电容信息的获取方法、装置及电子设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202311793623.4
申请日 2023/12/25
公告号 CN117454808A
公开日 2024/1/26
IPC主分类号 G06F30/30
权利人 杭州行芯科技有限公司
发明人 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名
地址 浙江省杭州市滨江区西兴街道丹枫路399号3号楼11层

专利主权项内容

1.一种寄生电容信息的获取方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:确定电路中的目标区域;确定所述目标区域中待求解寄生电容的目标网络;基于与所述目标网络构成电容的至少一关联网络,求解与所述目标网络对应的寄生电容,其中,所述关联网络位于根据所述目标区域的边界数据或所述目标网络的边界数据确定的外扩区域;根据所述目标区域中各所述目标网络的寄生电容的求解结果,获取与所述目标区域对应的寄生电容信息。