一种用于预先判断纱线染色性能的方法
摘要文本
本公开提供了用于预先判断纱线染色性能的方法和装置，以及电子装置和计算机可读存储介质。该方法包括对待判断的纱线确定染色正常纱线；对染色正常纱线进行光谱检测获得第一光谱信息；通过高斯过程核进行模拟，计算协方差；对待判断纱线获取多个连续的第二光谱信息，建立高斯过程回归模型；对待检测纱线获取第三光谱信息；将第三光谱信息的矩阵与第二光谱信息的矩阵进行减运算；根据减运算得到的矩阵数值判断纱线染色性能。根据本公开的方案，在批量在线生产时仅需首次进行染色判色，即可据此预先判断后续批次丝锭的染色特性，提高预判断纱线染色性能的检测速率，且方法简单，节约生产成本。。（macrodatas.cn） （来 自 马 克 数 据 网）
申请人信息
- 申请人:浙江恒逸石化有限公司
- 申请人地址:311200 浙江省杭州市萧山区市心北路260号
- 发明人: 浙江恒逸石化有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于预先判断纱线染色性能的方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311773984.2 |
| 申请日 | 2023/12/21 |
| 公告号 | CN117451691A |
| 公开日 | 2024/1/26 |
| IPC主分类号 | G01N21/65 |
| 权利人 | 浙江恒逸石化有限公司 |
| 发明人 | 王鹏; 彭先涛; 邱奕博; 刘明义; 王丹丹; 金君良; 沈军; 吴璇 |
| 地址 | 浙江省杭州市萧山区市心北路260号 |
专利主权项内容
1.一种用于预先判断纱线染色性能的方法，包括：对待判断的纱线样品确定同批次的染色正常的纱线样品；对所述同批次的染色正常的纱线样品进行光谱检测，获得第一光谱信息[x, y]，其中，x为波数取样值，y为光谱信息强度，且i为1至400的自然数；iiii基于所述第一光谱信息，通过以下计算公式I的高斯过程核RBF Kernel进行模拟，计算协方差：
(I)，其中，σ为0.5，l为1.0，且t对应于i=m的y值，且t对应于i=n的y值，并且m和n分别为1至400的自然数；mini以一定的波数采样步长，对待判断批次的纱线样品获取多个连续的第二光谱信息[x, y]，根据所述协方差建立高斯过程回归模型，其中多个连续的所述第二光谱信息[x, y]为2хN矩阵，其中，j=1, 2, …, N，且N为所述待判断批次的纱线样品的取样数且为200以上的自然数；jjjj111对待检测的纱线样品获取第三光谱信息[a, b]，所述第三光谱信息[a, b]为2хN矩阵，N为待检测的纱线样品的取样数，且N等于N；jjjj2221将所述第三光谱信息[a, b]的2хN矩阵与所述第二光谱信息[x, y]的2хN矩阵进行减运算，得到2хN矩阵[u, v]，且N等于N和N；jj2jj13jj312根据v的数值判断所述待检测的纱线样品的染色性能。j