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一种基于上下文和拓扑特征提取的错误分析方法和装置
摘要文本
本发明公开了一种基于上下文和拓扑特征提取的错误分析方法和装置，包括在量子电路中进行随机游走生成门的路径，路径表示门之间的链式关系，路径中的链式关系表示电路的拓扑特征，路径类型表示上下文信息；通过将路径与路径表匹配得到门特征向量；对门特征向量进行降维；通过将降维的门特征向量与标准向量列表进行匹配来标记门功能；通过检测门功能与相邻门的门功能的相似性实现门的错误分析。该方法和装置能够实现对量子电路进行错误分析，且提高错误分析的准确性。 （更多数据，详见马克数据网）
申请人信息
- 申请人:浙江大学
- 申请人地址:310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 发明人: 浙江大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于上下文和拓扑特征提取的错误分析方法和装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311224800.7 |
| 申请日 | 2023/9/21 |
| 公告号 | CN117350392A |
| 公开日 | 2024/1/5 |
| IPC主分类号 | G06N10/70 |
| 权利人 | 浙江大学 |
| 发明人 | 尹建伟; 卢丽强; 郎聪亮; 谭思危; 贾星辉; 王沭迪; 尚永衡 |
| 地址 | 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号 |
专利主权项内容
1.一种基于上下文和拓扑特征提取的错误分析方法，其特征在于，包括以下步骤：在量子电路中进行随机游走生成门的路径，路径表示门之间的链式关系，路径中的链式关系表示电路的拓扑特征，路径类型表示上下文信息；通过将路径与路径表匹配得到门特征向量；对门特征向量进行降维；通过将降维的门特征向量与标准向量列表进行匹配来标记门功能；通过检测门功能与相邻门的门功能的相似性实现门的错误分析。