基于上下文和拓扑特征提取的量子电路保真度分析方法和装置

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本发明公开了一种基于上下文和拓扑特征提取的量子电路保真度分析方法和装置，包括：在量子电路中进行随机游走生成门的路径，路径表示门之间的链式关系，路径中的链式关系表示电路的拓扑特征，路径类型表示上下文信息；通过将路径与路径表匹配得到门特征向量；对门特征向量进行降维；引入权重向量，将门误差建模为降维后的门特征向量与权重向量的点积，整个量子电路的保真度预测为所有门误差的相关多项式表达式。该方法和装置能够实现量子电路保真度的分析，且能够提高保真度分析的准确性。