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微推力测量装置
摘要文本
本申请涉及一种微推力测量装置，通过设置振动发生装置，向弹性承载元件主动输出简谐式驱动力，使得弹性承载元件在测试环境中主要噪声的频率范围之外振动，受环境振动干扰较小。在仅有驱动力输出时，获取驱动力作用下弹性承载元件的初始振幅和初始共振频率；在被测推力器有推力产生时，控制振动发生装置在初始共振频率附近扫频，取当前振幅与初始振幅差值最小时的驱动力频率作为当前共振频率，解析获得被测推力器的推力。采用这样的方式，基于共振原理对环境振动等背景噪声有效滤除，降低了微推力测量的难度，并提高测量精度。 来源：百度马 克 数据网
申请人信息
- 申请人:国科大杭州高等研究院
- 申请人地址:310000 浙江省杭州市西湖区象山支弄1号
- 发明人: 国科大杭州高等研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 微推力测量装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311684435.8 |
| 申请日 | 2023/12/11 |
| 公告号 | CN117387819A |
| 公开日 | 2024/1/12 |
| IPC主分类号 | G01L5/00 |
| 权利人 | 国科大杭州高等研究院 |
| 发明人 | 龙建飞; 成烨; 黄丹; 王嘉彬; 徐禄祥; 丁松园; 郭宁; 周炜杰; 梁健明 |
| 地址 | 浙江省杭州市西湖区象山支弄1号 |
专利主权项内容
1.一种微推力测量装置，用于测量被测推力器的推力，其特征在于，所述微推力测量装置包括：弹性承载元件，所述弹性承载元件一端固定，另一端为可运动的自由端；所述弹性承载元件竖直悬置，被测推力器固定安装至所述弹性承载元件的自由端；位移检测装置，用于检测所述弹性承载元件自由端的振动位移；振动发生装置，用于输出简谐式驱动力至所述弹性承载元件，以使所述弹性承载元件的自由端振动；控制装置，所述位移检测装置和振动发生装置分别电连接至所述控制装置；至少用于获取所述位移检测装置所检测的振动位移和振动发生装置的驱动力频率，以及根据所述位移检测装置所检测的振动位移输出扫频控制指令至所述振动发生装置；当仅有驱动力输出时，获取驱动力作用下弹性承载元件的初始振幅和初始共振频率；当被测推力器有推力产生时，控制振动发生装置在初始共振频率附近扫频，取当前振幅与初始振幅差值最小时的驱动力频率作为当前共振频率，解析获得被测推力器的推力。。来源：百度搜索马克数据网