← 返回列表
一种光学元件表面质量角分辨检测装置及方法
摘要文本
本发明公开了一种光学元件表面质量角分辨检测装置及方法,其中,检测装置包括光源模块、高精度经纬扫描平台、安装在经纬扫描平台上的散射信号探测模块、放置待检测光学元件的样品台以及控制样品台的多维运动平台;所述的高精度经纬扫描平台包含水平布置的圆弧齿轨和竖直布置的半圆弧齿轨,所述的半圆弧齿轨通过第一滑块滑动固定在圆弧齿轨上,所述的散射信号探测模块通过第二滑块滑动固定在半圆弧齿轨上;所述的样品台布置在圆弧齿轨的圆心位置。利用本发明,可以实现对光学元件表面散射信号全范围覆盖稳定检测。
申请人信息
- 申请人:浙江大学
- 申请人地址:310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
- 发明人: 浙江大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种光学元件表面质量角分辨检测装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311717588.8 |
| 申请日 | 2023/12/14 |
| 公告号 | CN117761013A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G01N21/49 |
| 权利人 | 浙江大学 |
| 发明人 | 刘东; 王劭文; 郭世维; 王狮凌; 张峰玮 |
| 地址 | 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号 |
专利主权项内容
1.一种光学元件表面质量角分辨检测装置,其特征在于,包括光源模块、高精度经纬扫描平台、安装在经纬扫描平台上的散射信号探测模块、放置待检测光学元件的样品台以及控制样品台的多维运动平台;所述的高精度经纬扫描平台包含水平布置的圆弧齿轨和竖直布置的半圆弧齿轨,所述的半圆弧齿轨通过第一滑块滑动固定在圆弧齿轨上,所述的散射信号探测模块通过第二滑块滑动固定在半圆弧齿轨上;所述的样品台布置在圆弧齿轨的圆心位置。