一种沉积物测年校正方法及系统
摘要文本
本发明公开一种沉积物测年校正方法及系统，涉及沉积物年代测量技术领域。本发明利用210Pb的同位素特性，将210Pb达到均衡之前的沉积物层位作为现代的物质(即现代沉积层位)，并对现代沉积层位的AMS14C测年数据以及采用AMS14C测年方法获得的待测沉积物的AMS14C测年数据进行插值得到“老碳”的校正值，以校正所有的14C测年数据，得到待测沉积物的年代框架。在应用于缺少有孔虫的沉积物14C测年的年代校正时，能够准确推断缺乏有孔虫的沉积物的年龄，提高沉积物14C测年的可靠性和准确性；此外，本发明简单易行，不需要额外的设备和复杂的实验操作，降低了沉积物年代测量的成本和实施难度。
申请人信息
- 申请人:自然资源部第二海洋研究所
- 申请人地址:310000 浙江省杭州市西湖区保俶北路36号自然资源部第二海洋研究所7-308室
- 发明人: 自然资源部第二海洋研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种沉积物测年校正方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311745543.1 |
| 申请日 | 2023/12/19 |
| 公告号 | CN117741733A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G01T7/00 |
| 权利人 | 自然资源部第二海洋研究所 |
| 发明人 | 韩喜彬; 张怡; 王逸卓; 马朋云; 韩瑞; 李小虎; 罗孝文; 吴自银; 武文栋; 孙琛 |
| 地址 | 浙江省杭州市西湖区保俶北路36号 |
专利主权项内容
1.一种沉积物测年校正方法，其特征在于，包括：采用AMSC测年方法获得待测沉积物各层的AMSC测年数据；1414对待测沉积物浅表层的Pb的同位素进行测试分析，得到Pb随沉积物深度衰减的均衡性；210210利用Pb随沉积物深度衰减的均衡性，将待测沉积物浅表层作为现代沉积层位，测出现代沉积层位的AMSC测年数据；21014对现代沉积层位的AMSC测年数据以及采用AMSC测年方法获得的待测沉积物的AMSC测年数据进行插值得到“老碳”的校正值；141414将除待测沉积物浅表层外的其他层位的AMSC测年数据均减去所述“老碳”校正值，得到待测沉积物各层校正后的AMSC日历年数值；1414基于待测沉积物中相邻两层校正后的AMSC日历年数值和相邻两层间的深度数值确定沉积速率；14根据所述沉积速率确定相邻两层之间沉积物的AMSC日历年数值；14根据所述沉积速率确定相邻两层之外沉积物的AMSC日历年数值；14根据待测沉积物各层校正后的AMSC日历年数值、相邻两层之间沉积物的AMSC日历年数值以及相邻两层之外沉积物的AMSC日历年数值构建年代框架，完成待测沉积物年代的测量。141414