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一种气体浓度检测方法及系统

申请号: CN202311681277.0
申请人: 至芯半导体(杭州)有限公司
申请日期: 2023/12/8

摘要文本

本发明公开了一种气体浓度检测方法及系统,涉及气体浓度检测技术领域。该方法包括:利用光探测器分别探测光源在有洁净空气和有待测气体情况下的光线强度;所述光源为校正光源或探测光源;根据校正光源在有洁净空气和有待测气体情况下的校正光线强度确定校正系数;利用校正系数对探测光源在有待测气体情况下的探测光线强度进行校正,得到校正后的探测光线强度;根据校正后的探测光线强度和探测光源在有洁净空气情况下的探测光线强度来确定待测气体中目标气体的浓度。本发明提供的气体浓度检测方法及系统能够解决气体传感器容易受空气中其他物质干扰的难题,有效提高气体传感器的检测精度。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种气体浓度检测方法及系统
专利类型 发明授权
申请号 CN202311681277.0
申请日 2023/12/8
公告号 CN117388201B
公开日 2024/3/8
IPC主分类号 G01N21/33
权利人 至芯半导体(杭州)有限公司
发明人 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名
地址 浙江省杭州市钱塘新区河庄街道东围路599号博潮城4幢一层和二层

专利主权项内容

1.一种气体浓度检测方法,其特征在于,包括:利用光探测器分别探测光源在有洁净空气和有待测气体情况下的光线强度;所述光源为校正光源或探测光源;当光源为校正光源时,所述光线强度为校正光线强度;当光源为探测光源时,所述光线强度为探测光线强度;根据校正光源在有洁净空气和有待测气体情况下的校正光线强度确定校正系数;利用校正系数对探测光源在有待测气体情况下的探测光线强度进行校正,得到校正后的探测光线强度;根据校正后的探测光线强度和探测光源在有洁净空气情况下的探测光线强度来确定待测气体中目标气体的浓度;所述利用光探测器分别探测光源在有洁净空气和有待测气体情况下的光线强度,具体包括:向气体传感器的腔体内部通入经过预处理的洁净空气或未经预处理的待测气体,直至充满腔体内部;控制光源从腔体的一端向腔体内部发射光线;通过光探测器从腔体的另一端检测得到光源在有洁净空气和有待测气体情况下的光线强度;所述光源为校正光源时,所述校正光源为第一紫外LED光源,所述光线为校正光线,所述校正光源在有洁净空气情况下的校正光线强度,所述校正光源在有待测气体情况下的校正光线强度/>;所述根据校正光源在有洁净空气和有待测气体情况下的校正光线强度确定校正系数,具体包括:根据校正光源在有洁净空气和有待测气体情况下的校正光线强度和/>,采用公式确定校正系数/>;所述利用光探测器分别探测光源在有洁净空气和有待测气体情况下的光线强度中,所述光源为探测光源,所述探测光源包括第二紫外LED光源和第三紫外LED光源,所述光线为探测光线,所述第二紫外LED光源在有洁净空气情况下的探测光线强度,所述第三紫外LED光源在有洁净空气情况下的探测光线强度/>;所述第二紫外LED光源在有待测气体情况下的探测光线强度/>,所述第三紫外LED光源在有待测气体情况下的探测光线强度/>;所述利用校正系数对探测光源在有待测气体情况下的探测光线强度进行校正,得到校正后的探测光线强度,具体包括:基于公式,利用校正系数/>对第二紫外LED光源在有待测气体情况下的探测光线强度/>进行校正,得到第二校正后的探测光线强度/>;基于公式,利用校正系数/>对第三紫外LED光源在有待测气体情况下的探测光线强度/>进行校正,得到第三校正后的探测光线强度/>;所述根据校正后的探测光线强度和探测光源在有洁净空气情况下的探测光线强度来确定待测气体中目标气体的浓度,具体包括:根据第二校正后的探测光线强度和第二紫外LED光源在有洁净空气情况下的探测光线强度/>,采用公式/>确定甲醛气体的浓度/>;其中/>为第一设定系数,/>,其中,/>为第一波长,/>为甲醛气体在/>时的紫外线吸光度,光程为l;根据甲醛气体的浓度,采用公式/>确定甲醛气体引起的光强变化;其中/>为第二设定系数,/>,其中,/>为第二波长,/>为甲醛气体在时的紫外线吸光度,光程为l;根据甲醛气体引起的光强变化,采用公式/>确定VOC气体的浓度;其中/>为第三设定系数,其中I5为第三紫外LED光源在有洁净空气情况下的探测光线强度。