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通过扫码器测试电子产品的方法、装置和计算机存储介质

申请号: CN202311417552.8
申请人: 乐沪电子有限公司
申请日期: 2023/10/30

摘要文本

本申请涉及测试领域,提供了通过扫码器测试电子产品的方法、装置和计算机存储介质。所述方法包括:目标电子产品被置于与扫码器刚性连接的测试设备后,扫码器对目标电子产品上装贴的图形码进行扫码并解析得到扫码结果;测试设备将扫码器解析得到的扫码结果上传至后台;测试设备接收后台针对目标电子产品返回的特定码;根据扫码结果和后台针对目标电子产品返回的特定码,测试设备对目标电子产品进行测试。本申请的技术方案可以防止测试结果出错。。该数据由<马克数据网>整理

专利详细信息

项目 内容
专利名称 通过扫码器测试电子产品的方法、装置和计算机存储介质
专利类型 发明申请
申请号 CN202311417552.8
申请日 2023/10/30
公告号 CN117452121A
公开日 2024/1/26
IPC主分类号 G01R31/01
权利人 乐沪电子有限公司
发明人 郝伟红; 陈裕楷; 谢水来
地址 浙江省温州市乐清市乐清湾港区海洋经济产业科技孵化园3幢

专利主权项内容

1.一种通过扫码器测试电子产品的方法,其特征在于,所述方法包括:目标电子产品被置于与扫码器刚性连接的测试设备后,扫码器对所述目标电子产品上装贴的图形码进行扫码并解析得到扫码结果;测试设备将所述扫码器解析得到的扫码结果上传至后台;所述测试设备接收所述后台针对所述目标电子产品返回的特定码;根据所述扫码结果和所述特定码,所述测试设备对所述目标电子产品进行测试。