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一种PECVD沉积BSG-硼源层制备硼发射极的方法及硅片与装置系统

申请号: CN202311783594.3
申请人: 浙江晶盛机电股份有限公司; 浙江晶盛光子科技有限公司
申请日期: 2023/12/22

摘要文本

本发明提供了一种PECVD沉积BSG‑硼源层制备硼发射极的方法及硅片与装置系统,所述方法包括依次进行的硅片预处理、PECVD沉积和热退火处理;其中,所述PECVD沉积的温度为250‑500℃,压力为800‑3000mTorr,工艺气体包括SiH4、B2H6和N2O,稀释气体包括Ar、H2或N2中的任意一种或至少两种的组合。本发明提供的方法特别适用于大尺寸电池在大管径的PECVD设备上沉积BSG,提升了硼掺杂均匀性及掺杂浓度,降低了表面BSG层去除难度,改善了钝化效果,同时简化了工艺流程,提高了生产效率,有利于大规模推广应用。 关注公众号马克数据网

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种PECVD沉积BSG-硼源层制备硼发射极的方法及硅片与装置系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311783594.3
申请日 2023/12/22
公告号 CN117766600A
公开日 2024/3/26
IPC主分类号 H01L31/0224
权利人 浙江晶盛机电股份有限公司; 浙江晶盛光子科技有限公司
发明人 王树林; 李鹏飞; 卢卫华
地址 浙江省绍兴市上虞区通江西路218号; 浙江省杭州市临平区余杭经济技术开发区顺达路500号1幢105室

专利主权项内容

1.一种PECVD沉积BSG-硼源层制备硼发射极的方法,其特征在于,所述方法包括依次进行的硅片预处理、PECVD沉积和热退火处理;其中,所述PECVD沉积的温度为250-500℃,压力为800-3000mTorr,工艺气体包括SiH、BH和NO,稀释气体包括Ar、H或N中的任意一种或至少两种的组合。426222