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蓝宝石缺陷检测方法、装置、电子装置和存储介质
摘要文本
本申请涉及一种蓝宝石缺陷检测方法、装置、电子装置和存储介质,其中,该蓝宝石缺陷检测方法包括:在待测蓝宝石的待测图像序列中,检测到待测蓝宝石在放肩阶段存在缺陷的情况下,确定检测到的目标缺陷类型;根据目标缺陷类型,以及不同的缺陷类型与误检排除策略预先建立的对应关系,从预设的误检排除策略中确定与目标缺陷类型对应的误检排除策略,作为目标策略;根据目标策略,对待测图像序列进行缺陷累积检测,并根据缺陷累积检测的结果验证检测到的待测蓝宝石在放肩阶段的缺陷。其能够针对识别出的缺陷类别,采取对应的误检排除策略进行误检排除,从而降低蓝宝石不同类型的缺陷的误检率,并提高蓝宝石放肩阶段的缺陷检测精度。
申请人信息
- 申请人:浙江晶盛机电股份有限公司; 浙江求是半导体设备有限公司
- 申请人地址:312300 浙江省绍兴市上虞区通江西路218号
- 发明人: 浙江晶盛机电股份有限公司; 浙江求是半导体设备有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 蓝宝石缺陷检测方法、装置、电子装置和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311808965.9 |
| 申请日 | 2023/12/26 |
| 公告号 | CN117456292A |
| 公开日 | 2024/1/26 |
| IPC主分类号 | G06V10/764 |
| 权利人 | 浙江晶盛机电股份有限公司; 浙江求是半导体设备有限公司 |
| 发明人 | 傅林坚; 刘华; 汪崇智 |
| 地址 | 浙江省绍兴市上虞区通江西路218号; 浙江省杭州市临平区临平街道顺达路500号1幢102室 |
专利主权项内容
1.一种蓝宝石缺陷检测方法,其特征在于,包括:在待测蓝宝石的待测图像序列中,检测到所述待测蓝宝石在放肩阶段存在缺陷的情况下,确定检测到的目标缺陷类型;根据所述目标缺陷类型,以及不同的缺陷类型与误检排除策略预先建立的对应关系,从预设的误检排除策略中确定与所述目标缺陷类型对应的误检排除策略,作为目标策略;根据所述目标策略,对所述待测图像序列进行缺陷累积检测,并根据所述缺陷累积检测的结果验证检测到的所述待测蓝宝石在放肩阶段的缺陷。。更多数据:搜索马克数据网来源:www.macrodatas.cn