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箔条云测量场景下的定标对准误差修正方法
摘要文本
本发明公开了一种箔条云测量场景下的定标对准误差修正方法，1、根据箔条云类型确定测量频率和仪器；2、搭建测量系统；3、初步对准，分析计算定标误差；4、移动天线，交叉十字扫描测量定标体，得到测量数据；5、获取理论标准数据；6、对标准结果与实验结果进行特征检测；7、对所有可能点中的离群异常值进行筛除；8、计算置信点集内所有点的最小外切圆，得到最终对准位置(x0, y0, z0)；9、根据对准位置(x0, y0, z0)，定义定标体对准误差因子β并计算；10、结果分析。本发明通过SBR‑SPCC‑LOF混合方法，通过让天线在非对准位置对进行十字扫描，实现了基于电磁学的定标体对准位置寻找，解决了当前光学对准手段在箔条云测量场景下的不适用性问题。
申请人信息
- 申请人:西安电子科技大学
- 申请人地址:710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号
- 发明人: 西安电子科技大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 箔条云测量场景下的定标对准误差修正方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311620151.2 |
| 申请日 | 2023/11/30 |
| 公告号 | CN117784042A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G01S7/40 |
| 权利人 | 西安电子科技大学 |
| 发明人 | 吴迪龙; 李丹阳; 左炎春; 王闻岩; 黄润; 吕冰; 刘伟; 郭立新; 余乐 |
| 地址 | 陕西省西安市雁塔区太白南路2号 |
专利主权项内容
1.箔条云测量场景下的定标对准误差修正方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：根据目标箔条云类型确定测量频率和测量仪器；步骤2：通过步骤1的测量仪器搭建测量系统；步骤3：初步对准，分析计算定标误差；步骤4：移动天线，交叉十字扫描测量定标体，得到测量数据；步骤5：获取测量条件下对应的理论标准数据；步骤6：对标准结果与实验结果进行特征检测，寻找不同频点处的可能对准位置；步骤7：对所有可能点中的离群异常值进行筛除，在筛除过程中，利用手肘法获得筛除门限阈值；步骤8：计算置信点集内所有点的最小外切圆，以外切圆圆心点为此时箔条云测量场景下的定标体最终对准位置(x, y, z)；<<<步骤9：根据对准位置(x, y, z)，定义定标体对准误差因子β并计算，此时真实的对准测量结果可以进行校正；<<<步骤10：结果分析。