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一种等离子超连续白光纳秒激光光解测量系统
摘要文本
本发明公开了一种等离子超连续白光纳秒激光光解测量系统，该系统包括：两台纳秒激光泵浦源，一台输出短波长光束用于泵浦激发待测样品，一台输出激光光源用于烧蚀击穿合金靶材，产生的等离子超连续白光作为探测光源，其中，为保证稳定的超连续光输出，靶材置于持续稳定运动的移动平台上；生成的等离子超连续白光通过透镜聚焦后作用于样品上，与激发光束在同一水平面上呈90度角穿过样品，并通过透镜聚焦后由光谱仪收集，数字信号延迟器辅助对探测白光实现时间分辨延迟控制。本发明实现了一种自研等离子超连续白光的产生，并实现了纳秒级激光光解分析，实现了测量方式的简易化，替代了氙灯与昂贵的PMT/ICCD组合以实现纳秒时间分辨。
申请人信息
- 申请人:西安电子科技大学
- 申请人地址:710071 陕西省西安市太白南路2号
- 发明人: 西安电子科技大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种等离子超连续白光纳秒激光光解测量系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311680484.4 |
| 申请日 | 2023/12/7 |
| 公告号 | CN117705735A |
| 公开日 | 2024/3/15 |
| IPC主分类号 | G01N21/27 |
| 权利人 | 西安电子科技大学 |
| 发明人 | 张雷; 张大成; 侯佳佳; 朱江峰; 冯中琦; 巴雨璐 |
| 地址 | 陕西省西安市雁塔区太白南路2号 |
专利主权项内容
1.一种等离子超连续白光纳秒激光光解测量系统，其特征在于，所述系统包括：第一纳秒泵浦源，用于产生第一泵浦激光；第二纳秒泵浦源，用于产生照射样品池的第二泵浦激光；所述第一泵浦激光的波长大于所述第二泵浦激光的波长；合金靶材与移动平台，所述合金靶材位于所述移动平台上，且随所述移动平台进行匀速往复运动；透镜组，用于将所述第一泵浦激光聚焦至所述合金靶材，生成等离子超连续白光；第一透镜，用于控制进入所述样品池的所述等离子超连续白光的光斑直径和入射角度；光纤光谱采集设备，用于收集携带激发态弛豫信息的探测白光；第二透镜，用于将透过所述样品池的所述等离子超连续白光聚焦至所述光纤光谱采集设备；数字信号延迟器，用于分别控制所述第一纳秒泵浦源、所述第二纳秒泵浦源和所述光纤光谱采集设备的工作时间。