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一种用于评定TiAl基合金定向生长能力的变截面试件及其制备方法

申请号: CN202311327270.9
申请人: 哈尔滨工业大学
申请日期: 2023/10/13

摘要文本

本发明涉及一种用于评定TiAl基合金定向生长能力的变截面试件及其制备方法,属于TiAl基合金定向凝固技术领域。为解决等截面试件无法评定TiAl基合金定向生长能力的问题,本发明提供了一种变截面试件及其制备方法,变截面试件为哑铃型一体式结构。在定向凝固过程中变截面试件内总热功率不断波动,受此影响生长能力较弱的TiAl基合金定向凝固试件中,极易产生柱状晶生长中断、柱状晶向等轴晶转变等缺陷,而生长能力较强的TiAl基合金定向凝固组织则不受影响,因此可对具有不同合金成分和组织结构的TiAl基合金的定向生长能力做出科学化的预测与评定,为工程应用做出预判,减少成本,降低风险。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种用于评定TiAl基合金定向生长能力的变截面试件及其制备方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311327270.9
申请日 2023/10/13
公告号 CN117405484A
公开日 2024/1/16
IPC主分类号 G01N1/44
权利人 哈尔滨工业大学
发明人 丁宏升; 梁贺; 黄海涛; 张旭星; 徐雪松
地址 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

专利主权项内容

1.一种用于评定TiAl基合金定向生长能力的变截面试件,其特征在于,所述变截面试件为哑铃型一体式结构,由上至下依次为顶部柱体(1)、中间柱体(2)和底部柱体(3),所述顶部柱体(1)、中间柱体(2)和底部柱体(3)均为等截面圆柱体,所述顶部柱体(1)和所述底部柱体(3)的横截面半径相等,所述中间柱体(2)的横截面半径小于所述顶部柱体(1)和所述底部柱体(3)的横截面半径,所述变截面试件由TiAl基合金制备而成。。