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一种氟碳化合物等离子体基团空间分布监测装置及方法

申请号: CN202311743393.0
申请人: 哈尔滨工业大学; 北京东方计量测试研究所
申请日期: 2023/12/19

摘要文本

一种氟碳化合物等离子体基团空间分布监测装置及方法,涉及半导体工业等离子体光谱诊断测试技术领域,装置包括:包括真空腔室、光纤阵列、凸透镜、凹透镜、分光棱镜、两个反应镜、三个滤波片以及三个工业相机;所述光纤阵列、凸透镜、凹透镜以及分光棱镜同轴设置,所述光纤阵列的探测方向垂直于所述真空腔室内的等离子区域;两个所述反应镜分别设置于所述分光棱镜的两侧,第一反应镜、第一滤波片、第一工业相机同轴设置,所述分光棱镜、第二滤波片、第二工业相机同轴设置,第二反应镜、第三滤波片、第三工业相机同轴设置;该装置及方法可以同时获得氟碳化合物等离子体基团在等离子体区域空间位置的绝对浓度,具有原位、同时性、无侵扰的特点。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种氟碳化合物等离子体基团空间分布监测装置及方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311743393.0
申请日 2023/12/19
公告号 CN117423600A
公开日 2024/1/19
IPC主分类号 H01J37/32
权利人 哈尔滨工业大学; 北京东方计量测试研究所
发明人 朱悉铭; 王璐; 康永琦; 贾军伟; 郑博文; 夏天; 张文杰
地址 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号; 北京市海淀区知春路82号1001室

专利主权项内容

1.一种氟碳化合物等离子体基团空间分布监测装置,其特征在于,包括真空腔室、光纤阵列、凸透镜、凹透镜、分光棱镜、两个反应镜、三个滤波片以及三个工业相机;所述光纤阵列、凸透镜、凹透镜以及分光棱镜同轴设置,所述光纤阵列的探测方向垂直于所述真空腔室内的等离子区域;两个所述反应镜分别设置于所述分光棱镜的两侧,所述第一反应镜、第一滤波片、第一工业相机同轴设置,所述分光棱镜、第二滤波片、第二工业相机同轴设置,第二反应镜、第三滤波片、第三工业相机同轴设置。 微信公众号马克 数据网