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任意结构光受激布里渊散射相位共轭装置及方法
摘要文本
本发明提供了一种任意结构光受激布里渊散射相位共轭装置及方法，属于光电子器件领域，能够解决现有光学相位共轭技术存在的保真度低等问题。第一泵浦光束经聚焦透镜入射至SBS介质池并聚焦，第一泵浦光束为结构光；至少一个第二泵浦光束入射至SBS介质池，与第一泵浦光束交叉干涉，破坏第一泵浦光束的空间分布，并与第一泵浦光束聚焦后产生的后向结构光斯托克斯波拍频，使至少一个第二泵浦光束对后向结构光斯托克斯波进行受激布里渊放大；其中，第一泵浦光束聚焦后产生的后向结构光斯托克斯波是第一泵浦光束的相位共轭光。本发明的上述技术能够用于对包含OAM光束的任意结构光场的高保真、低阈值相位共轭。
申请人信息
- 申请人:哈尔滨理工大学
- 申请人地址:150080 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
- 发明人: 哈尔滨理工大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 任意结构光受激布里渊散射相位共轭装置及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311570503.8 |
| 申请日 | 2023/11/22 |
| 公告号 | CN117724280A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G02F1/35 |
| 权利人 | 哈尔滨理工大学 |
| 发明人 | 高玮; 齐桐; 陈一哲; 闫顶 |
| 地址 | 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号 |
专利主权项内容
1.一种任意结构光受激布里渊散射相位共轭装置，其特征在于，包括聚焦透镜、SBS介质池、第一泵浦源及第二泵浦源；所述SBS介质池的一侧用于接收来自所述第一泵浦源的第一泵浦光束和来自所述第二泵浦源的至少一个第二泵浦光束，其中，所述第一泵浦光束为结构光；所述第一泵浦光束经所述聚焦透镜入射至SBS介质池并聚焦；所述至少一个第二泵浦光束入射至SBS介质池，在SBS介质池中与所述第一泵浦光束交叉发生干涉，以通过干涉破坏第一泵浦光束的空间分布，使得第一泵浦光束聚焦后产生的后向结构光斯托克斯波与所述至少一个第二泵浦光束发生拍频，而使所述至少一个第二泵浦光束对所述后向结构光斯托克斯波进行受激布里渊放大；其中，所述第一泵浦光束聚焦后产生的后向结构光斯托克斯波是所述第一泵浦光束的相位共轭光。