一种基于光梳齿间自干涉信号二次混频的测距装置和方法
摘要文本
本发明属于高精度激光测距技术领域，公开了一种基于光梳齿间自干涉信号二次混频的测距装置和方法，双光梳光源发出的双光梳激光进入光梳齿间自干涉信号探测光路，从而获取到调制了待测距离信息的光梳齿间自干涉信号；光梳齿间自干涉信号经过光梳齿间自干涉信号探测光路进入到光梳齿间自干涉二次混频信号生成、采集与计算模块，并生成光梳齿间自干涉二次混频信号，实现信号采集并计算得到测距结果；本发明实现了不同尺度下的粗、精测量，结合同步生成的中间过渡级测尺和级间过渡方法，可有效兼顾测距范围和精度，测量实时性强，光源成本低且系统规模较小。
申请人信息
- 申请人:哈尔滨工业大学
- 申请人地址:150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 发明人: 哈尔滨工业大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于光梳齿间自干涉信号二次混频的测距装置和方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311761113.9 |
| 申请日 | 2023/12/20 |
| 公告号 | CN117741677A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G01S17/08 |
| 权利人 | 哈尔滨工业大学 |
| 发明人 | 杨睿韬; 杨大成; 孙昊; 徐志鹏; 胡鹏程; 谭久彬 |
| 地址 | 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |
专利主权项内容
1.一种基于光梳齿间自干涉信号二次混频的测距装置，其特征在于，包括：双光梳光源(1)、光梳齿间自干涉信号探测光路(2)和光梳齿间自干涉二次混频信号生成、采集与计算模块(3)；双光梳光源(1)发出的双光梳激光进入光梳齿间自干涉信号探测光路(2)，从而获取到调制了待测距离信息的光梳齿间自干涉信号；光梳齿间自干涉信号经过光梳齿间自干涉信号探测光路(2)进入到光梳齿间自干涉二次混频信号生成、采集与计算模块(3)，并生成光梳齿间自干涉二次混频信号，实现信号采集并计算得到测距结果；所述双光梳光源(1)包括光梳I激光器(4)和光梳II激光器(5)；所述双光梳光源(1)包括光梳I激光器(4)和光梳II激光器(5)；光梳I激光器(4)的重频锁定至f，光梳II激光器(5)的重频锁定至f；光梳I激光器(4)和光梳II激光器(5)发出光梳I和光梳II，光梳I和光梳II的偏移频率不进行锁定；r1r2光梳I的第N阶齿间自干涉信号为：光梳I的各个纵模梳齿中频率间隔为Nf的成对纵模，梳齿组合发生拍频干涉所生成的信号；r1光梳II的第M阶齿间自干涉信号为：光梳II各个纵模梳齿中频率间隔为Mf的成对纵模，梳齿组合发生拍频干涉所生成的信号；r2其中，N的取值由测距精度需求决定，在相同干涉相位测量精度条件下，频率Nf越高则测距精度越高。r1。来自