← 返回列表
一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方法
摘要文本
一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方法，它涉及一种显微图像反射信息去耦合方法。本发明为了解决暗场共焦成像过程中，未被完全滤除的反射信号掺杂在散射信号中，导致获取图像亮度不均匀、背景噪声大，进而干扰亚表面缺陷观测的问题。本发明以明场图像作为先验，计算先验梯度模板，通过先验梯度模板提取出暗场散射信号，并滤除反射信息噪声。本发明属于图像处理技术领域。
申请人信息
- 申请人:哈尔滨工业大学
- 申请人地址:150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 发明人: 哈尔滨工业大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311085660.X |
| 申请日 | 2023/8/28 |
| 公告号 | CN117470847A |
| 公开日 | 2024/1/30 |
| IPC主分类号 | G01N21/88 |
| 权利人 | 哈尔滨工业大学 |
| 发明人 | 刘辰光; 刘俭; 由小玉 |
| 地址 | 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |
专利主权项内容
1.一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方法，其特征在于：所述一种暗场共焦显微图像反射信息去耦合方法的步骤包括：步骤一、通过暗场共焦显微系统获取光学元件表面缺陷的明场和暗场共焦显微图像；步骤二、建立由暗场共焦显微系统获取的图像的数学模型；步骤三、输入暗场共焦亚表面缺陷图像D和同深度明场共焦图像L；步骤四、归一化暗场共焦亚表面缺陷图像D和同深度明场共焦图像L的灰度值；步骤五、计算明场图像先验A；步骤六、计算同深度明场共焦图像L每个像素(i, j)的8邻域灰度值差的平方和，即梯度值grad(L(i, j))；步骤七、对于暗场共焦亚表面缺陷图像D每个像素(i, j)应用A作为加权系数得到修复值；步骤八、输出暗场共焦去耦合图像