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一种共焦层析扫描的快速高斯拟合提取峰值的方法

申请号: CN202311435670.1
申请人: 哈尔滨工业大学
申请日期: 2023/10/31

摘要文本

一种共焦层析扫描的快速高斯拟合提取峰值的方法,它涉及一种快速高斯拟合提取峰值的方法。本发明为了解决目前还没有一种方法能够快速、准确提取光强峰值的问题。本发明的步骤包括步骤1、遍历单点层析数据得到最大值,将单点层析数据中的每个数与最大值的一半进行比较,利用比较结果构造权值矩阵;步骤2、将对数据的高斯拟合转为对数据的线性拟合,结合权值矩阵采用线性加权最小二乘法进行求解得到拟合曲线的参数,通过变换得到单点的轴向响应曲线;步骤3、采用向量化计算对多点的层析数据进行最小二乘求解,同时得到多点的轴向响应曲线;步骤4、根据轴向响应曲线得到每个点对应的曲线峰值的位置。本发明属于光学测量技术领域。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种共焦层析扫描的快速高斯拟合提取峰值的方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311435670.1
申请日 2023/10/31
公告号 CN117520814A
公开日 2024/2/6
IPC主分类号 G06F18/213
权利人 哈尔滨工业大学
发明人 刘辰光; 刘俭; 徐振龙; 陈思达
地址 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

专利主权项内容

1.一种共焦层析扫描的快速高斯拟合提取峰值的方法,其特征在于:所述一种共焦层析扫描的快速高斯拟合提取峰值的方法是通过如下步骤实现的:步骤1、遍历单点层析数据得到最大值,将单点层析数据中的每个数与最大值的一半进行比较,利用比较结果构造权值矩阵;步骤2、将对数据的高斯拟合转为对数据的线性拟合,结合权值矩阵采用线性加权最小二乘法进行求解得到拟合曲线的参数,通过变换得到单点的轴向响应曲线;步骤3、采用向量化计算对多点的层析数据进行最小二乘求解,同时得到多点的轴向响应曲线;步骤4、根据轴向响应曲线得到每个点对应的曲线峰值的位置。