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等离子体推进器羽流激发态离子速度分布的光谱监测方法
摘要文本
本发明提出了等离子体推进器羽流激发态离子速度分布的光谱监测方法；属于光谱诊断测试技术领域，首先，将根光纤通过升降光学支架沿轴向排列，以测量等离子体推进器羽流区数据；再将光纤连接光谱仪测量氙离子的一价态谱线，反演还原出光纤其各自位置的氙原子谱线强度；根据反演出的光纤的氙原子谱线强度；计算得出羽流中激发态离子速度分布情况；本发明利用光谱测量可以直观准确的反应等离子体推进器羽流区域内的实际离子速度分布函数，准确测量离子速度。
申请人信息
- 申请人:哈尔滨工业大学; 北京东方计量测试研究所
- 申请人地址:150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 发明人: 哈尔滨工业大学; 北京东方计量测试研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 等离子体推进器羽流激发态离子速度分布的光谱监测方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311743460.9 |
| 申请日 | 2023/12/19 |
| 公告号 | CN117425260A |
| 公开日 | 2024/1/19 |
| IPC主分类号 | H05H1/00 |
| 权利人 | 哈尔滨工业大学; 北京东方计量测试研究所 |
| 发明人 | 朱悉铭; 郑博文; 王璐; 贾军伟; 李绍飞; 郝剑昆; 于达仁; 张韧 |
| 地址 | 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号; 北京市海淀区知春路82号1001室 |
专利主权项内容
1.等离子体推进器羽流中激发态离子速度分布的光谱监测方法，其特征在于：所述方法具体包括以下步骤：步骤1，将5根光纤(100)通过升降光学支架(200)沿等离子体推进器(400)羽流区的中心轴向等间隔排列，以测量等离子体推进器(400)羽流区数据；步骤2，将光谱仪(300)设置为双重图像功能，将步骤1的5根光纤(100)整合为1根光纤并连接光谱仪(300)，通过光谱仪(300)测量氙离子的一价态谱线；步骤3，根据光谱仪(300)检测到的氙离子的一价态谱线，反演还原出光纤(100)在位置1-5的氙原子谱线强度；步骤4，根据反演出的光纤(100)在位置1-5的氙原子谱线强度；计算得出羽流中激发态离子速度分布情况。