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一种专利授权率预测方法、系统、设备及存储介质
摘要文本
一种专利授权率预测方法、系统、设备及存储介质，属于信息处理技术领域，解决现有专利审查过程中存在的无法全面检索并使用与专利相关的公开的现有技术从而导致预测的准确率下降的问题。所述方法包括：获取待测专利文献的摘要，对摘要文本进行向量化，得到摘要的向量；计算待测专利文献的余弦和公开专利数据集的余弦相似度；选取N篇与待测专利文献的余弦相似度最高的公开专利，并对其于待测专利文献进行训练，得到处理后文本和选取出的公开专利的向量表示；采集公开专利文献的主题；计算公开专利文献与其主题向量的距离，作为数据分布表示；通过卷积层、池化层和全连接层获得专利授权预测结果。本发明适用于专利授权率的预测场景。 （来自 ）
申请人信息
- 申请人:哈尔滨工业大学
- 申请人地址:150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 发明人: 哈尔滨工业大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种专利授权率预测方法、系统、设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311171887.6 |
| 申请日 | 2023/9/12 |
| 公告号 | CN117371576A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G06Q10/04 |
| 权利人 | 哈尔滨工业大学 |
| 发明人 | 杨沐昀; 刘勐; 何明睿; 曹海龙; 徐冰; 朱聪慧; 赵铁军 |
| 地址 | 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |
专利主权项内容
1.一种专利授权预测方法，其特征在于，所述方法包括：根据待测专利文献的说明书，获取待测专利文献的摘要，对所述专利文献的摘要的文本进行向量化，得到所述摘要的向量；根据所述摘要的向量，计算待测专利文献的余弦和公开专利文献数据集的余弦相似度；选取N篇与待测专利文献的余弦相似度最高的公开专利文献；采用BERT模型训练所述待测专利文献和选取出的公开专利文献，得到处理后文本和选取出的公开专利文献的向量表示；采集所述选取出的公开专利文献的主题；计算所述选取出的公开专利文献与其主题向量的距离，作为数据分布表示；将所述选取出的公开专利文献的向量表示、主题和数据分布表示作为卷积层的输入，通过卷积层、池化层和全连接层获得专利文献的授权预测结果。