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基于碰撞辐射和光谱关联的金属光谱识别方法及系统

申请号: CN202311743388.X
申请人: 哈尔滨工业大学; 北京东方计量测试研究所
申请日期: 2023/12/19

摘要文本

本发明提出了基于碰撞辐射和光谱关联的金属光谱识别方法及系统,属于航天等离子体推进领域,首先确定实验中采集的光谱中心波长的偏移量;在满足偏移量的条件下,依据爱因斯坦发射系数、相对强度、上能级水平以及下能级水平的强度,综合比较进行谱线的初步辨识;对于偏移量满足确定的范围但仍无法区分的谱线,重点关注其上能级的能级结构,找出具有相同上能级的其他强谱线,进一步确定这些谱线是否存在,以完成基于碰撞辐射和光谱关联的复杂结构金属光谱识别,依靠此方法可以对钡钨空心阴极内部关键部件的金属谱线辨识分离。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 基于碰撞辐射和光谱关联的金属光谱识别方法及系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202311743388.X
申请日 2023/12/19
公告号 CN117420121A
公开日 2024/1/19
IPC主分类号 G01N21/70
权利人 哈尔滨工业大学; 北京东方计量测试研究所
发明人 朱悉铭; 王璐; 康永琦; 贾军伟; 郑博文; 张少楠; 赵东兴
地址 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号; 北京市海淀区知春路82号1001室

专利主权项内容

1.基于碰撞辐射和光谱关联的金属光谱识别方法,其特征在于:所述方法具体包括以下步骤:步骤一、确定实验中采集的光谱中心波长的偏移量;步骤二、在满足偏移量的条件下,依据爱因斯坦发射系数、相对强度Rel.Int、上能级/>水平以及下能级/>水平的强度,综合比较进行谱线的初步辨识;步骤三、对于偏移量满足步骤一确定的范围但仍无法按照步骤二区分的谱线,重点关注其上能级的能级结构,找出具有相同上能级的其他强谱线,进一步确定这些谱线是否存在,以完成基于碰撞辐射和光谱关联的复杂结构金属光谱识别。 来源:马 克 数 据 网