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一种目标探测谱段的筛选方法、装置、设备和存储介质
摘要文本
本发明公开了一种目标探测谱段的筛选方法、装置、设备和存储介质,其涉及目标检测技术领域。包括:获取目标的背景起伏尺度,对背景起伏尺度进行杂波量化并建立杂波定量化表征模型;通过杂波定量化表征模型计算目标相对于不同背景的信杂比投影图,选取包括峰值信杂比谱段作为初选探测谱段;将杂波定量化表征模型与天基探测链路进行结合得到目标可检测性表征模型;通过目标可检测性表征模型在初选探测谱段中筛选得到优选探测谱段。本发明考虑了天基探测链路及其各环节多尺度耦合效应,能够解决天基目标可检测性能的多尺度耦合匹配所存在的问题, 在保证谱段优选性能的前提下,极大地提升了优选探测谱段选择的效率。
申请人信息
- 申请人:哈尔滨工业大学
- 申请人地址:150006 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 发明人: 哈尔滨工业大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种目标探测谱段的筛选方法、装置、设备和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311795749.5 |
| 申请日 | 2023/12/25 |
| 公告号 | CN117761713A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G01S17/66 |
| 权利人 | 哈尔滨工业大学 |
| 发明人 | 智喜洋; 陈文彬; 杨佳伟; 鲍广震; 施天俊; 张鹏飞; 胡建明; 江世凯; 巩晋南 |
| 地址 | 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |
专利主权项内容
1.一种目标探测谱段的筛选方法,其特征在于,包括:获取目标的背景起伏尺度,对背景起伏尺度进行杂波量化建立杂波定量化表征模型;通过杂波定量化表征模型确定目标对应不同背景的信杂比投影图,并选取包括峰值信杂比的谱段作为初选探测谱段;将杂波定量化表征模型与天基探测链路进行结合,得到目标可检测性表征模型;通过目标可检测性表征模型在初选探测谱段中筛选得到优选探测谱段。