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一种基于非均匀零插滤波的快速高精度扫频干涉测量非线性校正系统及方法
摘要文本
一种基于非均匀零插滤波的快速高精度扫频干涉测量非线性校正系统及方法, 涉及激光测距技术技术领域。解决现有非线性校正方法存在的精度低和效率低的问题。系统采用扫频光发射路发射扫频光射入测量路中；测量路将入射光分成本振光和测量光，并将本振光与测量光外差干涉，形成测量拍频信号后转换为测量电信号发送给采集与处理单元，还将入射光发射给校正路；光频梳激光发射路发射光学频率梳激光射入校正路中；校正路将光学频率梳激光与扫频光外差干涉后进行I/Q调制，将调制后的光信号转换为拍频信号后发送给采集与处理单元；采集与处理单元将测量电信号和拍频信号对激光器扫频非线性进行校正。本发明适非均匀采样序列的等频率间隔重采样问题。
申请人信息
- 申请人:哈尔滨工业大学
- 申请人地址:150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 发明人: 哈尔滨工业大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于非均匀零插滤波的快速高精度扫频干涉测量非线性校正系统及方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311427983.2 |
| 申请日 | 2023/10/31 |
| 公告号 | CN117572443A |
| 公开日 | 2024/2/20 |
| IPC主分类号 | G01S17/34 |
| 权利人 | 哈尔滨工业大学 |
| 发明人 | 甘雨; 贾乃姝; 孟祥彬; 刘国栋 |
| 地址 | 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |
专利主权项内容
1.一种基于非均匀零插滤波的快速高精度扫频干涉测量非线性校正系统，其特征在于，所述系统包括扫频光发射路、光频梳激光发射路、测量路、校正路和采集与处理单元；所述扫频光发射路发射扫频光，射入所述测量路中；所述测量路用于将入射光分成本振光和测量光，并将所述本振光与测量光外差干涉，形成测量拍频信号后转换为测量电信号发送给所述采集与处理单元，还用于将入射光发射给校正路；所述光频梳激光发射路发射光学频率梳激光，射入所述校正路中；所述校正路用于将光学频率梳激光与接收的扫频光外差干涉后进行I/Q调制，还用于将I/Q调制后的光信号转换为正交的拍频信号后发送给所述采集与处理单元；所述采集与处理单元用于根据接收的测量电信号和正交的拍频信号对激光器扫频非线性进行校正。 来源：马 克 团 队