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一种U型的浮栅型分栅嵌入式非挥发存储器及其制造方法
摘要文本
本发明公开一种U型的浮栅型分栅嵌入式非挥发存储器及其制造方法。该器件在U型浮栅近漏侧利用热载流子注入对U型浮栅进行编程操作,在U型浮栅近源侧利用U型浮栅与n型阱之间大电场产生的FN隧穿进行擦除操作。该结构消除了单独的擦除栅,极大地简化了浮栅型分栅闪存单元结构,有效提高了闪存技术集成度,满足大容量闪存的需求。
申请人信息
- 申请人:上海朔集半导体科技有限公司
- 申请人地址:201210 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祥科路58号1幢5层515-1室
- 发明人: 上海朔集半导体科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种U型的浮栅型分栅嵌入式非挥发存储器及其制造方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410051373.5 |
| 申请日 | 2024/1/15 |
| 公告号 | CN117596878A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | H10B41/30 |
| 权利人 | 上海朔集半导体科技有限公司 |
| 发明人 | 孙清清; 周耀; 王端秀; 郭璐; 邹阳; 于立明; 蔡礼龙 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祥科路58号1幢5层515-1室 |
专利主权项内容
1.一种U型的浮栅型分栅嵌入式非挥发存储器,其特征在于,包括:p型阱,形成在硅衬底中;U型槽,形成在所述p型阱中;n型阱,形成在所述U型槽一侧的所述p型阱的上部;栅氧介质层,覆盖所述U型槽的底部和侧壁,并延伸覆盖所述U型槽两侧的部分所述n型阱和所述p型阱的上表面;U型浮栅,覆盖所述栅氧介质层,并无缝隙的填充所述U型槽;层间栅介质层,形成在所述U型浮栅上;耦合栅,形成在所述层间栅介质层上;字线栅介质层,形成在所述U型槽另一侧的所述p型阱的上表面;字线栅,形成在所述字线栅介质层上,且所述字线栅的上表面与所述耦合栅的上表面齐平,所述字线栅作为存储单元的字线;所述U型浮栅与所述字线栅之间形成有第二侧墙,所述第二侧墙实现两者的隔离和沟道的阈值电压调整;源电极和漏电极,分别形成在所述U型浮栅和所述字线栅两侧的所述硅衬底中,分别作为存储单元的源极线和位线;其中,在U型浮栅近漏侧利用热载流子注入对所述U型浮栅进行编程操作,在U型浮栅近源侧利用所述U型浮栅与所述n型阱之间大电场产生的FN隧穿进行擦除操作。