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AOA校准、计算方法及装置、定位设备及存储介质
摘要文本
本发明实施例涉及通信技术领域，公开了一种AOA校准、计算方法。校准方法包括：采集得到M个模组样本分别于K个AOA采样点处的PDOA采样值；根据每个模组样本的PDOA的固有偏差值分别对M个模组样本的K个AOA采样点处的PDOA采样值进行修正得到修正PDOA采样值；根据K个修正PDOA采样值得到K个标准PDOA值，根据K个标准PDOA值计算得到K个标定天线间距。AOA计算方法包括：根据当前位置处的PDOA修正值、预置的K个标准PDOA值以及K个标定天线间距采用差分方法计算得到当前位置处的修正天线间距；根据修正天线间距计算得到当前位置处的AOA，不仅校准样本量少、校准效率高，且可得到精确的AOA计算结果。
申请人信息
- 申请人:上海银基信息安全技术股份有限公司
- 申请人地址:201203 上海市浦东新区张东路1387号34幢
- 发明人: 上海银基信息安全技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | AOA校准、计算方法及装置、定位设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410218696.9 |
| 申请日 | 2024/2/28 |
| 公告号 | CN117805722A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G01S3/02 |
| 权利人 | 上海银基信息安全技术股份有限公司 |
| 发明人 | 周文宗; 郑秀彬; 雷庆之 |
| 地址 | 上海市浦东新区张东路1387号34幢 |
专利主权项内容
1.一种AOA校准方法，其特征在于，包括：采集得到M个模组样本的到达相位差PDOA的固有偏差值；采集得到所述M个模组样本分别于K个AOA采样点处的PDOA采样值；M，K均为大于1的自然数；根据每个所述模组样本的PDOA的固有偏差值分别对所述M个模组样本的K个AOA采样点处的PDOA采样值进行修正，得到所述M个模组样本的K个AOA采样点处的修正PDOA采样值；根据所述M个模组样本的K个修正PDOA采样值计算得到所述M个模组样本所属产品批次的K个AOA采样点处的标准PDOA值；根据所述产品批次的K个AOA采样点处的标准PDOA值计算得到所述产品批次的K个AOA采样点对应的标定天线间距；其中，K个所述标定天线间距以及K个所述标准PDOA值用于计算所述产品批次的模组的AOA值。