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多核异构芯片及其DMA控制器故障的检测方法和装置
摘要文本
多核异构芯片及其DMA控制器故障的检测方法和装置，其方法包括：第一应用域的注入模块读取一个注入参数组，计算其第一校验码，将注入参数组和第一校验码发送至DMA控制器；DMA控制器基于注入参数组计算出第二校验码，并基于第一校验码和第二校验码的初步比对结果，确定是否对注入参数组对应的数据进行数据搬运；注入模块基于数据搬运的源地址处数据，计算出第三校验码，并通过核间通信发送至第二应用域的检查模块；检查模块基于数据搬运的目的地址处数据，计算出第四校验码，并基于第三校验码和第四校验码的二次比对结果，确定DMA控制器是否存在故障。能够降低芯片流片后的DMA控制器故障率，降低成本，提高故障检测的独立性和安全性。。
申请人信息
- 申请人:上海励驰半导体有限公司
- 申请人地址:201203 上海市浦东新区晨晖路88号2幢3层
- 发明人: 上海励驰半导体有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 多核异构芯片及其DMA控制器故障的检测方法和装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410232523.2 |
| 申请日 | 2024/3/1 |
| 公告号 | CN117806894A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 上海励驰半导体有限公司 |
| 发明人 | 常猛猛 |
| 地址 | 上海市浦东新区自由贸易试验区祥科路111号2号楼217室 |
专利主权项内容
1.一种多核异构芯片的DMA控制器故障的检测方法，其特征在于，所述方法应用于多核异构芯片，所述多核异构芯片被配置有第一应用域和第二应用域，所述方法包括，所述第一应用域的注入模块响应于接收到检测启动信号，读取所述检测启动信号对应的一个注入参数组，计算出基于所述注入参数组的第一校验码，将所述注入参数组和所述第一校验码发送至所述多核异构芯片的DMA控制器；其中，所述注入参数组包括对应数据的源地址参数、目的地址参数和数据量参数；所述DMA控制器基于接收到的所述注入参数组，计算出第二校验码，并基于所述第一校验码和所述第二校验码的初步比对结果，确定是否对所述注入参数组对应的数据进行数据搬运；所述注入模块基于所述数据搬运的源地址处数据，计算出第三校验码，并通过核间通信发送至所述第二应用域的检查模块；所述检查模块基于所述数据搬运的目的地址处数据，计算出第四校验码，并基于所述第三校验码和所述第四校验码的二次比对结果，确定所述DMA控制器是否存在故障。 该数据由整理