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一种基于嵌入式PCB子卡的测试装置
摘要文本
本发明提供一种基于嵌入式PCB子卡的测试装置，包括：基座，其用于放置被测芯片，基座的内部安装有探针；测试载板，其通过探针和被测芯片进行电性连接；PCB子卡，其集成于基座的内部，PCB子卡设置于基座的顶端，PCB子卡上均匀设置有多个通孔，多个通孔分别用于容纳所述探针；基座形成的电感为第一环路电感，测试载板形成的电感为第二环路电感，PCB子卡形成的电感为第三环路电感，第一环路电感和第二环路电感形成串联路径，第三环路电感、第一环路电感和第二环路电感形成并联路径。本发明提供的基于嵌入式PCB子卡的测试装置，通过降低测试装置整体的环路电感，从而有效降低电源的纹波噪声，实现高可靠性的芯片测试功能。
申请人信息
- 申请人:上海捷策创电子科技有限公司
- 申请人地址:201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区龙东大道3000号8幢401-10室
- 发明人: 上海捷策创电子科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于嵌入式PCB子卡的测试装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410015541.5 |
| 申请日 | 2024/1/5 |
| 公告号 | CN117630647A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 发明人 | 王波; 喻为民 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区龙东大道3000号8幢401-10室 |
专利主权项内容
来自 1.一种基于嵌入式PCB子卡的测试装置，其特征在于，包括：基座，其用于放置被测芯片，所述基座的内部安装有探针；测试载板，其通过所述探针和所述被测芯片进行电性连接；PCB子卡，其集成于所述基座的内部，所述PCB子卡设置于所述基座的顶端，所述PCB子卡上均匀设置有多个通孔，所述多个通孔分别用于容纳所述探针，所述多个通孔包括电源内壁、接地内壁以及信号孔内壁，所述电源内壁和所述接地内壁为导电材料，所述信号孔内壁为不导电材料；所述基座形成的电感为第二环路电感，所述测试载板形成的电感为第三环路电感，所述PCB子卡形成的电感为第四环路电感，所述第二环路电感和所述第三环路电感形成串联路径，所述第四环路电感、所述第二环路电感和所述第三环路电感形成并联路径。