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指令执行时间一致性测试方法、系统、设备及存储介质
摘要文本
本申请实施例提供一种指令执行时间一致性测试方法、系统、设备及存储介质，涉及半导体技术领域。其中，本申请的方法包括：设定第一指令组和第二指令组；记录在基于指令执行时间一致性和不基于指令执行时间一致性情况下第一指令组和第二指令组的执行所需时钟数；根据第一指令组和第二指令组的执行所需时钟数，并基于预设规则，判断指令执行时间一致性操作是否有效；若是，认定测试通过；若否，则认定测试不通过。通过本申请提供的方法，可以保证条件跳转指令指令每次都预测正确或者每次都预测错误，能够测试固定执行时间，消除了分支预测带来的误差。
申请人信息
- 申请人:芯来智融半导体科技(上海)有限公司
- 申请人地址:201203 上海市浦东新区张江路505号展想中心807、808室
- 发明人: 芯来智融半导体科技(上海)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 指令执行时间一致性测试方法、系统、设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410232253.5 |
| 申请日 | 2024/3/1 |
| 公告号 | CN117806979A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 芯来智融半导体科技(上海)有限公司 |
| 发明人 | 胡振波; 彭剑英; 梁智兵; 伍迎 |
| 地址 | 上海市浦东新区张江路505号展想中心807、808室 |
专利主权项内容
1.一种指令执行时间一致性测试方法，其特征在于，包括：设定第一指令组和第二指令组，所述第一指令组均为确定不跳转的条件跳转指令，所述第二指令组均为确定跳转的条件跳转指令，所述第一指令组和所述第二指令组中指令数相同；分别在基于指令执行时间一致性和不基于指令执行时间一致性情况下，多次执行所述第一指令组和所述第二指令组，并逐次增加所述第一指令组和所述第二指令组中的指令数，记录在基于指令执行时间一致性和不基于指令执行时间一致性情况下所述第一指令组和所述第二指令组的执行所需时钟数；根据所述第一指令组和所述第二指令组的执行所需时钟数，并基于预设规则，判断指令执行时间一致性操作是否有效；若是，认定测试通过；若否，则认定测试不通过。