芯片设计调整方法、电子设备和介质
摘要文本
本发明涉及芯片技术领域,尤其涉及一种芯片设计调整方法、电子设备和介质,方法包括步骤S1、获取物理层芯片设计配置信息;步骤S2、基于物理层芯片设计配置信息以及每一原子单元的RTL代码生成物理层芯片设计RTL代码,基于设计RTL代码进行DFX测试以及生成门级网表;步骤S3、基于DFX测试和/或门级网表,生成芯片调整信息;步骤S4、基于芯片调整信息更新所述物理层芯片设计配置信息;步骤S5、基于更新后的物理层芯片设计配置信息以及每一原子单元的RTL代码生成更新物理层芯片设计RTL代码。本发明减少了芯片设计的修改时间,提高芯片设计的效率。
申请人信息
- 申请人:沐曦集成电路(上海)有限公司
- 申请人地址:201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
- 发明人: 沐曦集成电路(上海)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片设计调整方法、电子设备和介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410197394.8 |
| 申请日 | 2024/2/22 |
| 公告号 | CN117764020A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G06F30/39 |
| 权利人 | 沐曦集成电路(上海)有限公司 |
| 发明人 | 王定; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼 |
专利主权项内容
1.一种芯片设计调整方法,其特征在于,包括:步骤S1、获取物理层芯片设计配置信息{X_Y_PL, X_Y_PL, …, X_Y_PL, …, X_Y_PL, BL},其中,X_Y_PL为第n组物理层芯片互联设计配置信息,n的取值范围为1到N,N为物理层芯片设计配置信息总组数,X、Y均为物理层芯片设计中具有互联关系的芯片组成模块,芯片组成模块为原子单元或基于原子单元互联组成的模块,每一原子单元具有预先生成的RTL代码,每一芯片组成模块包括子模块、与子模块互联的端口信息以及与用于连接外部的端口信息,PL为X、Y的互联端口列表;111222nnnNNNnnnnnnnnPL={(PX, PY), (PX, PY), …, (PX, PY), …, (PX, PY)},(PX, PY)为X、Y的第i组互联端口,i的取值范围为1到f(n), f(n)为X、Y之间的互联端口总数,PX=(PXT, PXW),PXT为X的第i个端口标识,PXW为X对应的PX、PY之间的信号方向信息,PY=(PYT, PYW),PYT为Y的第i个端口标识,PYW为Y对应的PX、PY之间的信号方向信息;n1n1n2n2nininf(n)nf(n)nininnnnnininininninnininininininninnininBL为未互联端口列表,所述未互联端口列表包括物理层芯片设计中未互联端口信息,未互联端口信息包括端口标识和端口状态;步骤S2、基于所述物理层芯片设计配置信息以及每一原子单元的RTL代码生成物理层芯片设计RTL代码,基于所述设计RTL代码进行DFX测试以及生成门级网表;步骤S3、基于DFX测试和/或门级网表,生成芯片调整信息,所述芯片调整信息包括新增芯片组成模块、删除芯片组成模块、替换芯片组成模块、修改端口互联;步骤S4、基于所述芯片调整信息更新所述物理层芯片设计配置信息;步骤S5、基于更新后的物理层芯片设计配置信息以及每一原子单元的RTL代码生成更新物理层芯片设计RTL代码。