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测试方法、测试系统、电子设备及程序产品
摘要文本
本申请公开了一种测试方法、测试系统、电子设备及程序产品,其中所述方法包括:响应于启动指令,启动待测芯片的待测主系统,从待测主系统中,获得目标标识信息;基于目标标识信息,确定和待测主系统属于同一多核异构系统的待测从系统,所述待测从系统包括所述同一多核异构系统中除待测主系统包括的硬件域之外的其他硬件域和所述其他硬件域对应的操作系统;采用与待测主系统匹配的第一测试用例对待测主系统进行测试,以及,采用与待测从系统匹配的第二测试用例对待测从系统进行测试,以实现对待测芯片的系统级测试。为同一系列的不同类型产品芯片的SLT系统级测试提供了一种新的技术支持。
申请人信息
- 申请人:上海励驰半导体有限公司
- 申请人地址:201210 上海市浦东新区自由贸易试验区祥科路111号2号楼217室
- 发明人: 上海励驰半导体有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 测试方法、测试系统、电子设备及程序产品 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410245632.8 |
| 申请日 | 2024/3/5 |
| 公告号 | CN117825934A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 上海励驰半导体有限公司 |
| 发明人 | 李润宇 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祥科路111号2号楼217室 |
专利主权项内容
1.一种测试方法,其特征在于,包括:响应于启动指令,启动待测芯片的待测主系统,所述待测芯片包括多核异构系统,所述多核异构系统包括至少两个硬件域;各硬件域由多核异构系统中多个架构不同的处理器核以及与各处理器核连接的硬件资源构成,所述各硬件域之间互相隔离;所述各硬件域对应各操作系统;所述待测主系统包括所述至少两个硬件域中的其中之一硬件域和所述其中之一硬件域对应的操作系统;从待测主系统中,获得目标标识信息,所述目标标识信息用于表征所述待测芯片的种类或类型;基于目标标识信息,确定和待测主系统属于同一多核异构系统的待测从系统,所述待测从系统包括所述同一多核异构系统中除待测主系统包括的硬件域之外的其他硬件域和所述其他硬件域对应的操作系统;采用与待测主系统匹配的第一测试用例对待测主系统进行测试,以及,采用与待测从系统匹配的第二测试用例对待测从系统进行测试,以实现对所述待测芯片的系统级测试。