一种信号质量检测方法及信号质量检测电路
摘要文本
本申请提供了本申请实施例提供的一种信号质量检测方法及信号质量检测电路,设计信号处理技术领域,包括:误码率统计模块接收CDR锁定检测电路所产生的锁定状态信号,同时计时器开始计时;误码率统计模块在CDR锁定检测电路产生失锁信号时,触发一次计数;微处理器检测到计时器到达预定时间时,计时器清零,且提取误码率统计模块存储的计数次数,根据计数次数以及误码率统计模块对应的储能充电电流,确定输入CDR锁定检测电路的高速数据在CDR锁定检测电路对应的时钟相位下的误码率。本申请通过引入误码率统计模块,通过检测CDR锁定检测电路所产生的锁定状态信号,实现误码率检测,降低检测成本,降低应将配置难度。 微信公众号马克 数据网
申请人信息
- 申请人:上海米硅科技有限公司
- 申请人地址:201306 上海市浦东新区(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
- 发明人: 上海米硅科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种信号质量检测方法及信号质量检测电路 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202410001530.1 |
| 申请日 | 2024/1/2 |
| 公告号 | CN117498858B |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | H03L7/18 |
| 权利人 | 上海米硅科技有限公司 |
| 发明人 | 李谊 |
| 地址 | 上海市浦东新区(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼 |
专利主权项内容
1.一种信号质量检测方法,其特征在于,应用于误码率检测电路,所述误码率检测电路包括误码率统计模块、计时器和微处理器,所述方法包括:所述误码率统计模块接收CDR锁定检测电路所产生的锁定状态信号,同时计时器开始计时;所述误码率统计模块在所述CDR锁定检测电路产生失锁信号时,触发一次计数;所述微处理器检测到计时器到达预定时间时,计时器清零,且提取所述误码率统计模块存储的计数次数,根据所述计数次数以及所述误码率统计模块对应的储能充电电流,确定输入所述CDR锁定检测电路的高速数据在CDR锁定检测电路对应的时钟相位下的误码率;所述误码率统计模块包括第一开关、第二开关、电容、比较器和计数器,第一开关的控制端连接到CDR锁定检测电路的输出端,第一开关的第一连接端连接到供电电源,第一开关的第二连接端分别连接到比较器的正向输入端和电容的一端,电容另一端接地,比较器的反向输入端连接到参考电压,第二开关的控制端连接到微处理器,第二开关的第一连接端连接到比较器的正向输入端,第二开关的第二连接端接地,比较器的输出端连接到所述计数器的输入端,所述计数器的输出端连接到微处理器,所述误码率统计模块通过以下方式完成触发计数:A1、第一开关和第二开关断开,当CDR锁定检测电路产生失锁信号时触发所述第一开关闭合,以使所述供电电源向电容充电,在电容两端产生储能电压;A2、所述比较器比较储能电压和参考电压的大小,当所述储能电压大于参考电压时,触发所述计数器完成一次计数;A3、在所述计数器完成一次计数后,所述第一开关断开、所述第二开关闭合,以使所述电容放电,直至储能电压变为0V;循环执行步骤A1~A3,直至计时器到达预定时间,提取所述计数器的计数;所述误码率统计模块还包括电流检测传感器,用于检测所述电容对应的充电电流,其中,所述电流检测传感器串联在所述供电电源和所述第一开关的第一连接端之间,模块电流为所述电流检测传感器检测到的充电电流,其中,所述微处理器通过以下公式确定输入所述CDR锁定检测电路的高速数据在当前时钟相位下对应的误码率:在该公式中,表示误码率,/>表示达到预定时间/>后,计数器提取出的计数次数,/>表示模块电流,/>表示数据输入频率,即锁定状态信号的输入频率,其中,表示比较器参考电压,/>表示电容。 (来自 )