一种EDA约束检测系统
摘要文本
本申请涉及电数字数据处理技术领域，特别是涉及一种EDA约束检测系统。其包括存储器，存储器存储有约束树，nodei的数据域存储有nodei对应的typei和namei；如果nodei为内部节点，则nodei的指针域存储有nodei, +和nodei, ‑；系统包括的计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：获取待检测电子约束的type’和name’；根据type’和name’在约束树中进行匹配，获取匹配的节点node’；如果node’的数据域没有存储约束条件且node’+的数据域存储有约束条件，则将node’+的数据域存储的约束条件确定为待检测电子约束的约束条件。本发明能减少约束数据占用的存储空间。 数据由马 克 数 据整理
申请人信息
- 申请人:上海合见工业软件集团有限公司
- 申请人地址:201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张东路1158号、丹桂路1059号2幢305-7室
- 发明人: 上海合见工业软件集团有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种EDA约束检测系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410233649.1 |
| 申请日 | 2024/3/1 |
| 公告号 | CN117829044A |
| 公开日 | 2024/4/5 |
| IPC主分类号 | G06F30/33 |
| 权利人 | 上海合见工业软件集团有限公司 |
| 发明人 | 郭太秀; 廖志刚; 曹立言; 冯德旭 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张东路1158号、丹桂路1059号2幢305-7室 |
专利主权项内容
1.一种EDA约束检测系统，其特征在于，所述系统包括存储器，所述存储器存储有电子器件约束树，所述电子器件约束树包括n个节点，其中第i个节点为node，i的取值范围为1到n，node的数据域存储有node对应的电子约束的类型type和名称name，如果node为根节点，则node的指针域存储有node的孩子节点node；如果node为叶子节点，则node的指针域存储有node的父节点node；如果node为内部节点，则node的指针域存储有node的父节点node和node的孩子节点node；所述系统还包括处理器和存储有计算机程序的存储介质，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：iiiiiiiii, -iiii, +iiii, +ii, -S100，获取待检测的电子约束的类型type’和名称name’；S200，根据type’和name’在所述电子器件约束树中进行匹配，获取匹配的节点node’；S300，如果node’的数据域没有存储约束条件且node’的数据域存储有约束条件，则将node’的数据域存储的约束条件确定为待检测的电子约束的约束条件；node’为node’的指针域存储的父节点。+++