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失效分析方法及装置、计算机可读存储介质、终端
摘要文本
一种失效分析方法及装置、计算机可读存储介质、终端，所述方法包括：确定DFT诊断数据；根据所述DFT诊断数据，确定各个目标组合的分数，其中，所述目标组合包含各种疑似失效的类型和位置的组合；基于各个硬件节点的各个目标组合的分数，采用路径推理模型确定每个目标组合的分布概率；根据所述分布概率，确定第一失效分析结果。本发明可以使用户快速定位到失效位置进行分析，有效提高失效分析的效率和准确性。
申请人信息
- 申请人:全智芯(上海)技术有限公司
- 申请人地址:201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
- 发明人: 全智芯(上海)技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 失效分析方法及装置、计算机可读存储介质、终端 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410115863.7 |
| 申请日 | 2024/1/26 |
| 公告号 | CN117648895A |
| 公开日 | 2024/3/5 |
| IPC主分类号 | G06F30/333 |
| 权利人 | 全智芯(上海)技术有限公司 |
| 发明人 | 请求不公布姓名; 请求不公布姓名; 请求不公布姓名 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼 |
专利主权项内容
1.一种失效分析方法，其特征在于，包括：确定DFT诊断数据，所述DFT诊断数据包含疑似失效的硬件节点的疑似失效的路径，每个路径的疑似失效的位置组的组信息，每个组信息包括该位置组包含的疑似失效的位置和类型；根据所述DFT诊断数据，确定各个目标组合的分数，其中，所述目标组合包含各种疑似失效的类型和位置的组合；基于各个硬件节点的各个目标组合的分数，采用路径推理模型确定每个目标组合的分布概率；根据所述分布概率，确定第一失效分析结果。。来源：马 克 数 据 网