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一种基于聚类处理的Demura方法及显示装置
摘要文本
本发明提供了一种基于聚类处理的Demura方法及显示装置，包括：S10：将显示面板的一像素单元作为起始像素单元，从起始像素单元向外辐射，由近及远依次计算外围像素单元与起始像素单元的Mura补偿值差值；S20：将与起始像素单元的Mura补偿值差值小于或等于预设Mura补偿值阈值的像素单元划分为同一类目区域，分配该类目区域的ID，并获得该类目区域的外围边界像素单元的位置信息、类目区域的Mura补偿值和预设Mura补偿值阈值，该算法记录无精度损失的Mura补偿值，在保留完整图像信息的同时，节省了Mura补偿值存储的空间。
申请人信息
- 申请人:欣瑞华微电子(上海)有限公司
- 申请人地址:201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
- 发明人: 欣瑞华微电子(上海)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于聚类处理的Demura方法及显示装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410233313.5 |
| 申请日 | 2024/3/1 |
| 公告号 | CN117809574A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G09G3/3233 |
| 权利人 | 欣瑞华微电子(上海)有限公司 |
| 发明人 | 高蓉; 覃正才; 李洋 |
| 地址 | 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼 |
专利主权项内容
1.一种基于聚类处理的Demura方法，其特征在于，包括：S10：将显示面板的一像素单元作为起始像素单元，从起始像素单元向外辐射，由近及远依次计算外围像素单元与起始像素单元的Mura补偿值差值；S20：将与起始像素单元的Mura补偿值差值小于或等于预设Mura补偿值阈值的像素单元划分为同一类目区域，分配该类目区域的ID，并获得该类目区域的外围边界像素单元的位置信息、类目区域的Mura补偿值和预设Mura补偿值阈值；S30：从显示面板的未划分类目区域的像素单元中选择一像素单元作为起始像素单元继续进行上述步骤S10至S20操作，其中，已经划分类目区域的像素单元不再次进行划分，直至所有像素单元均划分类目区域完毕；S40：存储各类目区域的外围边界像素单元的位置信息、ID及对应类目区域的Mura补偿值。