一种用于X光机的定位方法及定位装置
摘要文本
本发明公开了一种用于X光机的定位方法及定位装置，该定位方法包括形成一磁场，磁场至少覆盖X射线源与平板探测器之间的区域，在固定SID下，磁场中磁场原点与平板探测器的物理中心位置存在固定的位置关系。在定位前，获取在X射线源与平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度与位置坐标的映射关系、磁场零点的位置坐标。定位时，可以通过测量磁场强度的大小寻找当前位置与磁场原点位置之间的关系，找到探测器物理中心的位置。本发明可以解决X光机，尤其是移动DR中探测器在被遮挡的情况下，无法识别或者识别误差较大的问题。整个系统相对简单，不需要拍摄即可实现定位，减少误操作同时减少总拍摄次数，有利于检测效率及良率。
申请人信息
- 申请人:上海奕瑞光电子科技股份有限公司
- 申请人地址:201201 上海市浦东新区瑞庆路590号9幢2层202室
- 发明人: 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于X光机的定位方法及定位装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410139486.0 |
| 申请日 | 2024/2/1 |
| 公告号 | CN117653178A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | A61B6/42 |
| 权利人 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
| 发明人 | 费起来; 陈俊吉; 黄翌敏 |
| 地址 | 上海市浦东新区瑞庆路590号9幢2层202室 |
专利主权项内容
1.一种用于X光机的定位方法，其特征在于，所述X光机包括X射线源和平板探测器，所述定位方法包括：形成一磁场，所述磁场至少覆盖所述X射线源与所述平板探测器之间的区域，所述磁场存在磁场零点线，所述磁场零点线与所述X射线源或所述平板探测器相交的点为磁场零点，在所述X射线源与所述平板探测器处于某一相对位置时，所述磁场零点的位置坐标与所述平板探测器的物理中心的位置坐标存在第一偏移量；获取在所述X射线源与所述平板探测器处于任意相对位置的情况下，各个位置的磁场强度-位置坐标的映射关系、所述磁场零点的位置坐标；获取当前位置的磁场强度，根据当前位置的磁场强度及磁场强度-位置坐标的映射关系确定当前位置的位置坐标；根据当前位置的位置坐标以及磁场零点的位置坐标，计算获得当前位置相对于所述磁场零点的位置的第二偏移量；根据所述第一偏移量及所述第二偏移量，计算当前位置与平板探测器的物理中心的位置之间的第三偏移量；根据所述第三偏移量移动X射线源和/或平板探测器，直至X射线源与平板探测器的物理中心对准。 更多数据：