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一种基于碳化硅MOSFET的短路检测装置

申请号: CN202410071783.6
申请人: 上海聚跃检测技术有限公司
申请日期: 2024/1/18

摘要文本

本发明公开了一种基于碳化硅MOSFET的短路检测装置,包括检测电感L、第一电阻R1、二极管D、第一比较器U1、运算放大器U2、第二比较器U3、第三比较器U4、与门U5、RS触发器U6、第一电容C1、第一开关管Q1、第二开关管Q2。该短路检测装置电路简单、准确度高,提高了抗干扰性能和可靠性能,避免了开关电流振荡造成的短路误判。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于碳化硅MOSFET的短路检测装置
专利类型 发明申请
申请号 CN202410071783.6
申请日 2024/1/18
公告号 CN117590191A
公开日 2024/2/23
IPC主分类号 G01R31/26
权利人 上海聚跃检测技术有限公司
发明人 尚跃
地址 上海市浦东新区张东路1388号2幢101室

专利主权项内容

1.一种基于碳化硅MOSFET的短路检测装置,其特征在于,该短路检测装置包括检测电感L、第一电阻R1、二极管D、第一比较器U1、运算放大器U2、第二比较器U3、第三比较器U4、与门U5、RS触发器U6、第一电容C1、第一开关管Q1、第二开关管Q2;检测电感L与待测碳化硅MOSFET串联在电源电路中,检测电感L的第一端连接待测碳化硅MOSFET的源极、接地端和第二开关管Q2的源极,检测电感L的第二端连接第一比较器U1的同相输入端,第一参考电压V1输入到第一比较器U1的反相输入端,第一比较器U1的输出端连接第一开关管Q1的栅极,第一电阻R1的第一端连接检测电感L的第二端,第一电阻R1的第二端连接二极管D的阴极,二极管D的阳极连接运算放大器U2的反相输入端、第一电容C1的第一端和第一开关管Q1的源极,运算放大器U2的同相输入端连接接地端,运算放大器U2的输出端连接第一电容C1的第二端、第一开关管Q1的漏极和第三比较器U4的同相输入端,第三比较器U4的反相输入端连接第二参考电压V2,第三比较器U4的输出端连接与门U5的第一输入端,第二比较器U3的同相输入端连接待测碳化硅MOSFET的栅极,第二比较器U3的反相输入端连接第三参考电压V3,第二比较器U3的输出端连接与门U5的第二输入端,与门U5的输出端连接RS触发器U6的置位端S,RS触发器U6的复位端R连接+5V电压,RS触发器U6的输出端Q连接第二开关管Q2的栅极,第二开关管Q2的漏极连接待测碳化硅MOSFET的栅极。