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离子过滤装置及半导体加工设备

申请号: CN202410085942.8
申请人: 上海邦芯半导体科技有限公司
申请日期: 2024/1/22

摘要文本

本申请实施例涉及半导体制造技术领域,公开了一种离子过滤装置及半导体加工设备。其中的离子过滤装置包括沿预设方向相对设置的上离子过滤板与下离子过滤板,上离子过滤板的边缘处与下离子过滤板的边缘处连接,并在上离子过滤板与下离子过滤板之间形成空腔;下离子过滤板均匀设置有多个贯穿下离子过滤板的下离子过滤通道,每个下离子过滤通道的一端连通空腔,每个下离子过滤通道的另一端用于朝向载置台所在平面;上离子过滤板与下离子过滤板的连接处设置有多个进气孔。本申请实施例提供的离子过滤装置及半导体加工设备,能够有利于避免出现因气体分布不均匀而影响反应腔内工艺反应的均匀性的问题。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 离子过滤装置及半导体加工设备
专利类型 发明申请
申请号 CN202410085942.8
申请日 2024/1/22
公告号 CN117599531A
公开日 2024/2/27
IPC主分类号 B01D46/12
权利人 上海邦芯半导体科技有限公司
发明人 沈康; 向浪; 王兆祥; 涂乐义; 梁洁
地址 上海市金山区卫昌路293号2幢12638室

专利主权项内容

1.一种离子过滤装置,用于在反应腔室中阻隔进气中的离子到达载置台所在区域,其特征在于,包括沿预设方向相对设置的上离子过滤板与下离子过滤板,所述上离子过滤板的边缘处与所述下离子过滤板的边缘处连接,并在所述上离子过滤板与所述下离子过滤板之间形成空腔;所述下离子过滤板均匀设置有多个贯穿所述下离子过滤板的下离子过滤通道,每个所述下离子过滤通道的一端连通所述空腔,每个所述下离子过滤通道的另一端用于朝向所述载置台所在平面;所述上离子过滤板与所述下离子过滤板的连接处设置有多个进气孔,每个所述进气孔的一端朝向所述预设方向的垂直方向设置、用于连接工艺气体气源,每个所述进气孔的另一端与所述空腔连通;所述空腔中设置有环绕所述下离子过滤板的中心设置的多个隔挡板,每个所述隔挡板在所述下离子过滤板上的投影避开所述下离子过滤通道,多个所述隔挡板分布在不同的所述进气孔内工艺气体在所述空腔内的流动路径上、用于使多个所述进气孔内通入的工艺气体在所述空腔中均匀扩散至所述上离子过滤板表面。