← 返回列表
精烧制品形状尺寸测量方法及系统
摘要文本
本申请提供了一种精烧制品形状尺寸测量方法及系统,涉及测量技术领域。其中,该方法包括:获取精烧制品的历史烧制信息,基于精烧制品的历史烧制信息,构建精烧制品的精烧预测模型,对所述精烧预测模型进行训练,获得训练完成的精烧预测模型;基于训练完成的精烧预测模型计算精烧制品的预测信息;进行形状检测,获得形状与尺寸检测结果;并将基于所述形状与尺寸检测结果、所述精烧制品的烧制信息及预测信息,计算确定精细测量目标;对所述精细测量目标进行三维扫描测量,获得精细测量目标的测量数据,该方法提高测量效率和目标测量精度,有利于后续精烧调整优化,保障精烧制品的质量。
申请人信息
- 申请人:上海强华实业股份有限公司
- 申请人地址:201507 上海市金山区漕泾镇亭卫公路3312号
- 发明人: 上海强华实业股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 精烧制品形状尺寸测量方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410174623.4 |
| 申请日 | 2024/2/7 |
| 公告号 | CN117739819A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G01B11/00 |
| 权利人 | 上海强华实业股份有限公司 |
| 发明人 | 蓝呈; 周韦军; 夏欣怡 |
| 地址 | 上海市金山区漕泾镇亭卫公路3312号 |
专利主权项内容
1.一种精烧制品形状尺寸测量方法,其特征在于,包括:S1、获取精烧制品的历史烧制信息,基于精烧制品的历史烧制信息,构建精烧制品的精烧预测模型,对所述精烧预测模型进行训练,获得训练完成的精烧预测模型,所述历史烧制信息为历史t时刻烧制图像、历史t时刻温度及历史t时刻温度变化率以及历史t+1时刻的烧制图像及历史t+1时刻的温度;S2、精烧过程中,获取至少一个精烧制品的烧制信息,对烧制信息进行预处理,并基于训练完成的精烧预测模型计算精烧制品的预测信息;所述精烧制品的烧制信息为n时刻的烧制图像、温度及温度变化率,预测信息为n+1时刻的烧制图像和n+1时刻的温度;S3、基于所述精烧制品的烧制信息及预测信息,进行形状检测,获得形状与尺寸检测结果;并基于所述形状与尺寸检测结果、所述精烧制品的烧制信息及预测信息,计算确定精细测量目标;S4、对所述精细测量目标进行三维扫描测量,获得精细测量目标的测量数据。