石英中心托盘制作工艺的质量检测与控制方法
摘要文本
本发明涉及缺陷检测技术领域,本发明公开了石英中心托盘制作工艺的质量检测与控制方法,包括:将被测托盘的测量尺寸和标准三维模型的设计尺寸进行比较,以获取被测托盘的第一质检结果;获取尺寸合格的被测托盘的M幅局部X射线图像,以及获取尺寸合格的被测托盘的M幅局部光学图像;分别对M幅局部X射线图像和M幅局部光学图像进行解析,以获取被测托盘的内部缺陷数据和外部缺陷数据,并依据内部缺陷数据和外部缺陷数据进行综合分析,以确定被测托盘的第二质检结果;本发明有利于对石英中心托盘进行质量量化和缺陷识别,进而有利于实现对石英中心托盘的质量控制。。
申请人信息
- 申请人:上海强华实业股份有限公司
- 申请人地址:201507 上海市金山区漕泾镇亭卫公路3312号
- 发明人: 上海强华实业股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 石英中心托盘制作工艺的质量检测与控制方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202410081308.7 |
| 申请日 | 2024/1/19 |
| 公告号 | CN117589109B |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G01B21/02 |
| 权利人 | 上海强华实业股份有限公司 |
| 发明人 | 姚禄辉; 周韦军; 周文华 |
| 地址 | 上海市金山区漕泾镇亭卫公路3312号 |
专利主权项内容
1.石英中心托盘制作工艺的质量检测与控制方法,其特征在于,所述方法包括:将被测托盘的测量尺寸和标准三维模型的设计尺寸进行比较,以获取所述被测托盘的第一质检结果;所述第一质检结果包括尺寸合格或尺寸不合格中的一种;包括:根据相同的规则将被测托盘和标准三维模型划分为N个细分部位,N为大于零的整数;测量被测托盘中每个细分部位的实际厚度和实际长度,以及获取标准三维模型中每个细分部位的设计厚度和设计长度;基于被测托盘和标准三维模型中相同细分部位进行厚度比对,计算厚度系数,其计算公式为:;其中,/>表示厚度系数,/>表示第i个细分部位的实际厚度,/>表示第i个细分部位的设计厚度;基于被测托盘和标准三维模型中相同细分部位进行长度比对,计算长度系数,其计算公式为:;其中,/>表示长度系数,/>表示第i个细分部位的实际长度,/>表示第i个细分部位的设计长度;依据厚度系数和长度系数计算尺寸系数,基于尺寸系数确定获取第一质检结果,其计算公式为:;其中,/>表示尺寸系数,/>和/>表示大于零的修正因子,/>>/>;获取尺寸合格的被测托盘的M幅局部X射线图像,以及获取尺寸合格的被测托盘的M幅局部光学图像;分别对M幅局部X射线图像和M幅局部光学图像进行解析,以获取被测托盘的内部缺陷数据和外部缺陷数据,并依据所述内部缺陷数据和外部缺陷数据进行综合分析,以确定被测托盘的第二质检结果,所述第二质检结果为质量符合标准或质量不符合标准中的一种;根据第一质检结果或第二质检结果控制被测托盘进入下一加工环节,所述下一加工环节包括包装环节和返工环节。