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一种ModelSim与测试系统联合仿真调试的方法

申请号: CN202410052885.3
申请人: 上海谐振半导体科技有限公司
申请日期: 2024/1/15

摘要文本

本发明涉及集成电路自动测试技术领域,具体是一种ModelSim与测试系统联合仿真调试的方法,结合自动化测试系统和脚本程序,本发明使用ATE测试平台,自动定位信号的失效周期位置,并输出相关日志信息,免去了人工定位失效周期引入的风险,并提高了调试大周期数量通信协议的可行性;同时,使用自动化转换脚本,能够将信号数据,适配ModelSim和ATE测试系统两种开发环境,实现信号跨平台的联合仿真调试;使用自动化修复脚本,根据ATE测试系统的运行日志,自动修复信号的失效周期;该功能免去了随着迭代次数增加,可能导致的输入错误,并缩短了仿真调试的开发周期。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种ModelSim与测试系统联合仿真调试的方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410052885.3
申请日 2024/1/15
公告号 CN117829052A
公开日 2024/4/5
IPC主分类号 G06F30/333
权利人 上海谐振半导体科技有限公司
发明人 黄冬平; 毛国梁
地址 上海市闵行区浦星公路789号11幢202室

专利主权项内容

1.一种ModelSim与测试系统联合仿真调试的方法,其特征在于:包括以下步骤:S1、首先启动ModelSim,创建工程,导入仿真信号和激励的Verilog源码,编译成功后,配置周期,目标监控信号,VCD文件输出路径等参数,开始仿真;S2、得到ModelSim仿真结果后,导出信号的VCD格式文件,使用VCD转ATP脚本,得到信号的ATP格式文件;S3、在ATE开发环境下创建测试工程,让Pattern正确执行;S4、测试工程和ATP文件,经ATE测试系统编译后,打开PAT运行工具,执行向量文件PAT,设置中间结果触发事件,Pat Tool记录Pattern运行的中间结果日志;S5、使用PAT自动修复脚本,配合Pat Tool输出的中间结果日志,修复Pattern的失效周期,得到新的Atp文件,该文件经ATE测试系统编译后,进入下一次Pat Tool的运行迭代,这一过程重复进行,直到Pattern的所有周期Pass;S6、经过ATE测试系统的迭代修复后,使用ATP转VCD脚本,将新的Atp文件还原为VCD格式文件,将VCD文件导入ModelSim,对比修复前后的信号波形结果;S7、根据信号波形的对比结果,修改Verilog源码;S8、符合设计预期后,仿真结束。