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液晶移相器响应时间测试系统及测试方法
摘要文本
本发明公开了一种液晶移相器响应时间测试系统及测试方法,其中液晶移相器用于基于偏置电压对测试信号进行移相,包括:用于产生控制信号的上位机;用于基于控制信号产生偏置电压的电压驱动模块;用于基于控制信号产生测试信号,以及将液晶移相器的输出信号相位信息发送至上位机的网络分析仪;用于将测试信号移动指定相位并产生基准信号、将液晶移相器的输出信号与基准信号进行合成并产生合成信号,以及根据合成信号的稳定时间得到液晶移相器的响应时间的测试模块。本发明的液晶移相器响应时间测试系统及测试方法,通过合成液晶移相器的输出信号和基准信号,使液晶移相器的相位信息通过转换成电压信号,方便快速地测得响应时间。
申请人信息
- 申请人:上海雷骥电子科技有限公司
- 申请人地址:201100 上海市闵行区颛兴东路1277弄113号
- 发明人: 上海雷骥电子科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 液晶移相器响应时间测试系统及测试方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410163779.2 |
| 申请日 | 2024/2/5 |
| 公告号 | CN117761925A |
| 公开日 | 2024/3/26 |
| IPC主分类号 | G02F1/13 |
| 权利人 | 上海雷骥电子科技有限公司 |
| 发明人 | 樊小景; 胡恒太; 陈晓菡; 郑全化; 李朝伟 |
| 地址 | 上海市闵行区颛兴东路1277弄113号 |
专利主权项内容
1.一种液晶移相器响应时间测试系统,所述液晶移相器用于基于偏置电压对测试信号进行移相,其特征在于,包括:上位机,用于产生控制信号;电压驱动模块,用于基于控制信号产生偏置电压;网络分析仪,用于基于控制信号产生测试信号,以及将液晶移相器的输出信号相位信息发送至上位机,所述上位机用于建立液晶移相器的偏置电压与移相相位之间的映射关系;测试模块,用于将测试信号移动指定相位并产生基准信号、将液晶移相器的输出信号与基准信号进行合成并产生合成信号,以及根据合成信号的稳定时间得到液晶移相器的响应时间。