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一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统及方法

申请号: CN202410010164.6
申请人: 上海源斌电子科技有限公司
申请日期: 2024/1/4

摘要文本

本发明公开了一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统及方法,属于芯片数据分析技术领域,包括芯片数据采集模块、数据管理中心、历史处理分析模块、数据清理管理模块和存储数据整理规划模块,通过芯片数据采集模块采集用于采集芯片内数据被清理的历史数据以及芯片的数据存储信息,通过数据管理中心存储并管理采集到的全部数据,通过历史处理分析模块分析芯片内数据被清理的历史数据并生成训练样本,通过数据清理管理模块建立数据清理预测模型,预测下一次需要进行芯片数据清理时间并进行数据清理,通过存储数据整理规划模块比较芯片内存储信息的利用价值,筛选出芯片内的部分数据进行删除处理,持续性地保障了导航芯片的正常和便利使用。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统及方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410010164.6
申请日 2024/1/4
公告号 CN117827112A
公开日 2024/4/5
IPC主分类号 G06F3/06
权利人 上海源斌电子科技有限公司
发明人 袁永斌
地址 上海市闵行区申南路515号1幢501A

专利主权项内容

1.一种基于人工智能的电子元件存储数据分析系统,其特征在于:所述系统包括:芯片数据采集模块、数据管理中心、历史处理分析模块、数据清理管理模块和存储数据整理规划模块;所述芯片数据采集模块的输出端连接所述数据管理中心的输入端,所述数据管理中心的输出端连接所述历史处理分析模块和存储数据整理规划模块的输入端,所述历史处理分析模块的输出端连接所述数据清理管理模块的输入端,所述数据清理管理模块的输出端连接所述存储数据整理规划模块的输入端;通过所述芯片数据采集模块采集用于采集芯片内数据被清理的历史数据以及芯片的数据存储信息,将采集到的所有数据传输到所述数据管理中心;通过所述数据管理中心存储并管理采集到的全部数据;通过所述历史处理分析模块分析芯片内数据被清理的历史数据并生成训练样本;通过所述数据清理管理模块建立数据清理预测模型,预测下一次需要进行芯片数据清理时间并进行数据清理;通过所述存储数据整理规划模块分析并比较芯片内存储的不同信息的利用价值,筛选出芯片内的部分数据进行删除处理。